高能电子的原子散射因子,晶体热振动的各向异性及温度因子

本文讨论了电子的原子散射因子和温度因子的定义与计算，给出了６６种基本晶体在１Ｋ至１０００Ｋ温度区间内的Ｄｅｂｙｅ－Ｗａｌｅｒ因子，９８种中性原子的电子原子弹性散射因子的解析拟合参数，可用于一般晶体吸收散射因子计算和解析拟合的计算机程序。

结合结构模型与LMGP软件包强化原子散射因子的教学

原子散射因子是构成晶体学以及X射线衍射学等学科的基础内容之一,其在X射线衍射分析学的教学中起到承上启下的作用,是引出结构因子以及系统性消光等重要衍射学理论的基础性内容,针对其教学难度的把握和教学内容的覆盖面将直接决定了学生对于后期X射线衍射强度内容的理解。为了强化教学效果,增强学生对于这个知识点的理解力,我们在相关的教学环节中在合理设计并解释相应的结构模型的基础上,结合了LMGP软件包中的特定程序用于教学,使学生在学到了基础知识的同时强化了对于结晶学专用程序的理解,收到了良好的教学效果。

晶体X光衍射强度与几何结构因子关系研究

从原子中的电子对X光散射的概念出发 ,对任意一个晶胞内的任意一个原子产生的X光衍射给出了具体的数学描述 .从几何结构因子的定义出发 ,从理论上证明了晶体X光衍射强度与几何结构因子的平方成正比的这一重要关系 .

正交相BaSi_2粉晶X射线衍射谱的计算

由正交相BaSi2晶胞原子的分数坐标和散射因子计算出其粉晶X射线衍射谱,结果与PDF卡片的数据相当一致。该计算方法既可用于新材料PDF卡片的计算,也可用于校验实验方法得到的PDF卡片的可靠性。

软X射线共振反射方法表征Sc/Si多层膜界面化合物成分的计算研究

Sc/Si周期多层膜是极紫外波段的重要材料,但膜层界面处材料原子间的扩散与化合反应严重影响了多层膜反射率。为了无损表征多层膜界面化合物的成分,利用软X射线共振反射的方法,研究了Sc/Si多层膜界面化合物成分。在Si的L吸收边附近,计算了不同周期厚度以及不同界面硅化物成分的Sc/Si多层膜的共振反射率。结果表明,界面硅化物成分不同的膜系在Si的L边处的反射率有明显差异,并且反射率随着膜层中Si化合反应的消耗而降低,证实了软X射线共振反射方法在亚纳米尺度下对化合物的成分进行无损分析的可行性,为后续的实验研究提供参考。