微波等离子体炬发射光谱法去溶系统性能的研究

用微波等离子体炬 (MPT)作激发光源 ,等离子体的工作气体为氩气 ,研究了气动雾化进样去溶系统的工作参数对分析性能的影响 ,探讨了水冷凝与浓硫酸吸收二者协同去溶的相关性 .结果表明 ,通过测量OH带 (Q1 带 ,带头谱线为 3 0 8.5 2 0 nm)的发射强度即可判别样品去溶效果 .

一种新型的等离子体质谱和光谱进样系统：膜去溶进样系统

本文简要阐述了美国ＣＦＴＡＣ公司生产的新型等离子体质谱和光谱进样系统的特点及其在降低稀土元素氧化物干扰，提高被测元件检出限方面所起的作用。给出了分析实例。

Nafion干燥器的去溶机理和日常维护

介绍了用于原子光谱分析的Nafion干燥器的去溶机理、使用条件及日常维护与清洗。与其他常用去溶系统或干燥器相比较 ,Nafion去溶系统具有更高的去溶效率、更好的选择性、更强的抗腐蚀能力 ,日常维护和清洗简单。该系统不存在记忆效应和峰展宽问题 ,可大大改善原子光谱分析系统的性能。