一种提取垂直探测电离图描迹的方法

本文针对垂直探测电离图的复杂性和特殊性,提出了一种提取垂直探测电离图描迹的方法。该算法先去干扰,然后进行OS-CFAR检测,最后去虚警点。通过对实测数据的处理,表明这种方法能够有效去除干扰并保留电离层信息,并且可移植度高,适合工程应用。