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基于过程控制和参数分布能力的元器件质量评价方法
被引量:
1
1
作者
李剑焘
孙明
+2 位作者
张海明
宁永成
蒋承志
《电子与封装》
2023年第2期74-78,共5页
高可靠元器件制造关键工序控制能力和产品性能参数一致性水平与产品质量密切相关。对元器件产品质量表征要素和定量表征方法进行了系统研究,提出了一种基于元器件过程控制能力和关键参数分布能力的产品质量水平定量评价方法。典型品种...
高可靠元器件制造关键工序控制能力和产品性能参数一致性水平与产品质量密切相关。对元器件产品质量表征要素和定量表征方法进行了系统研究,提出了一种基于元器件过程控制能力和关键参数分布能力的产品质量水平定量评价方法。典型品种验证结果表明,该方法可有效定量表征产品生产批质量水平。
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关键词
电子元器件
质量评价
过程控制
参数分布能力
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职称材料
题名
基于过程控制和参数分布能力的元器件质量评价方法
被引量:
1
1
作者
李剑焘
孙明
张海明
宁永成
蒋承志
机构
中国航天宇航元器件工程中心
出处
《电子与封装》
2023年第2期74-78,共5页
文摘
高可靠元器件制造关键工序控制能力和产品性能参数一致性水平与产品质量密切相关。对元器件产品质量表征要素和定量表征方法进行了系统研究,提出了一种基于元器件过程控制能力和关键参数分布能力的产品质量水平定量评价方法。典型品种验证结果表明,该方法可有效定量表征产品生产批质量水平。
关键词
电子元器件
质量评价
过程控制
参数分布能力
Keywords
electronic components
quality evaluation
process control
parameter distribution capability
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于过程控制和参数分布能力的元器件质量评价方法
李剑焘
孙明
张海明
宁永成
蒋承志
《电子与封装》
2023
1
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