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题名双狭缝高分辨率紫外成像光谱仪光学系统设计
被引量:3
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作者
朱雨霁
尹达一
魏传新
陈永和
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机构
中国科学院上海技术物理研究所
中国科学院红外探测与成像技术重点实验室
中国科学院大学
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出处
《半导体光电》
CAS
北大核心
2018年第4期549-553,共5页
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基金
国家自然科学基金项目(40776100)
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文摘
在机载和星载领域,尤其是用于观测科学目标短期变化的应用领域,遥感平台逐步要求光谱仪在实现高分辨率的同时缩短重访时间。研究了基于Offner结构的紫外成像光谱系统,设计了一种工作波段为250~500nm、双狭缝均长50mm、双入射狭缝间隔为37mm、光谱分辨率为0.3nm的双缝高分辨率紫外成像光谱仪,并对设计结果进行了分析与评价。结果表明,这种紫外双缝成像光谱仪在41.67lp·mm-1处的传递函数达到0.76以上,实现接近衍射极限的优良成像质量,同时大大缩短了系统重访时间,提高了系统的信噪比,在保证高分辨率的同时缩小了系统体积和扫描镜口径,适合机载和星载遥感应用。
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关键词
紫外
双入射狭缝
成像光谱仪
Offner光谱成像系统
高分辨率
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Keywords
ultraviolet
double slits
imaging spectrometer
Offner spectral imaging system
high resolution
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分类号
TN23
[电子电信—物理电子学]
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