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双断口结构对特高压SF_6断路器电场分布的影响分析
被引量:
15
1
作者
刘晓明
孙宝龙
王尔智
《高电压技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第6期1795-1801,共7页
特高压断路器中常采用双断口或多断口串联,但串联结构在开断过程中会产生各断口间电位分布不均的情况,导致断口电场分布发生改变。为此,基于能量扰动法求得1 100 kV双断口SF6断路器灭弧断口等效电容及断口对地等效电容,确定并联电容值,...
特高压断路器中常采用双断口或多断口串联,但串联结构在开断过程中会产生各断口间电位分布不均的情况,导致断口电场分布发生改变。为此,基于能量扰动法求得1 100 kV双断口SF6断路器灭弧断口等效电容及断口对地等效电容,确定并联电容值,进而得到双断口分压比。再采用有限元法仿真计算了断口的非对称3维电场,定量描述、对比分析了550 kV单断口灭弧系统与1 100 kV双断口灭弧系统触头沿面电场强度,得出了不同灭弧单元的电场变化规律,以及双断口结构对电场强度分布的影响。结果表明,采用双断口串联结构时,灭弧系统的断口间电压分配不均匀,且分压比随着开断距离的增大而减小;进而导致断口间电场强度以及开断故障电路时电弧重燃风险增大。因此有必要对双断口灭弧系统断口结构进行优化设计。
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关键词
双断口串联
SF6断路器
3维电场
能量扰动法
并联电容
有限元法
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职称材料
题名
双断口结构对特高压SF_6断路器电场分布的影响分析
被引量:
15
1
作者
刘晓明
孙宝龙
王尔智
机构
沈阳工业大学电气工程学院
出处
《高电压技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第6期1795-1801,共7页
基金
国家自然科学基金(51377106
51337001)~~
文摘
特高压断路器中常采用双断口或多断口串联,但串联结构在开断过程中会产生各断口间电位分布不均的情况,导致断口电场分布发生改变。为此,基于能量扰动法求得1 100 kV双断口SF6断路器灭弧断口等效电容及断口对地等效电容,确定并联电容值,进而得到双断口分压比。再采用有限元法仿真计算了断口的非对称3维电场,定量描述、对比分析了550 kV单断口灭弧系统与1 100 kV双断口灭弧系统触头沿面电场强度,得出了不同灭弧单元的电场变化规律,以及双断口结构对电场强度分布的影响。结果表明,采用双断口串联结构时,灭弧系统的断口间电压分配不均匀,且分压比随着开断距离的增大而减小;进而导致断口间电场强度以及开断故障电路时电弧重燃风险增大。因此有必要对双断口灭弧系统断口结构进行优化设计。
关键词
双断口串联
SF6断路器
3维电场
能量扰动法
并联电容
有限元法
Keywords
double-break in series
SF6 circuit breaker
3D electric field
energy perturbation method
parallel capacitor
finite element method
分类号
TM561.3 [电气工程—电器]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
双断口结构对特高压SF_6断路器电场分布的影响分析
刘晓明
孙宝龙
王尔智
《高电压技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014
15
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