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超高技术指标超声波双晶分隔探头的研制
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作者 吴来政 万升云 邬结文 《无损探伤》 2018年第4期33-35,共3页
介绍了新近研发的双晶分隔式超声波探头,改变了传统技术制造的思路,突破了技术指标的瓶颈。该探头在2mm^3mm薄板和50mm^60mm的中厚板需要在同一工况下检测,以及厚板从上表面到下表面在同一工况下检测中,其灵敏度波动不超过6dB且抗扰始... 介绍了新近研发的双晶分隔式超声波探头,改变了传统技术制造的思路,突破了技术指标的瓶颈。该探头在2mm^3mm薄板和50mm^60mm的中厚板需要在同一工况下检测,以及厚板从上表面到下表面在同一工况下检测中,其灵敏度波动不超过6dB且抗扰始波高度大于40dB,其指标领先国内外技术水平。 展开更多
关键词 双晶片分隔 超高技术指标 距离-波幅曲线 抗扰始波高度
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