双晶衍射仪的计算机改装

对双晶衍射仪实行改造，用一台ＰＣ＿４０１微机直接控制和进行小角散射等测量。实现了自动测量、数据处理及显示、输出等多种功能，扩大了应用范围。

微机化X射线双晶衍射仪

本文介绍一种微机化的X射线双晶衍射仪,不但可用于近完整晶体中微小畸变,点阵错配及晶片弯曲等的测量,而且可以作定点定时的强度记录和扫描,以提高信噪比,并使曲线数据化。经微机化后的X射线双晶衍射仪可以对超晶格材料以及离子注入材料作细致的分析。

双晶衍射仪工作原理及常见故障

概述了Bede QC200双晶衍射仪工作原理,介绍了Bede QC200双晶衍射仪的常见故障及维修方法,实现了关键部件的元件级维修。分析表明,通过对仪器原理框图、信号流程图的了解,对测试信号进行判断,正确选择需要的测量仪器对维修很重要。指出了常见故障维修过程中如何做到思路清晰有的放矢,迅速判断故障部位所在,提高维修工作效率。

具有水平狭缝的X射线双晶衍射仪及其应用

本文介绍了我们设计并制造的Ｘ射线双晶衍射仪，在设计中注意了三个关键问题，并首先应用水平狭缝来调试水平零层，文中以测量抛光损伤，双晶貌相和双晶摆动曲线为例，介绍了本仪器的结构特点和如何应用水平狭缝，解决科研工作中在实验技术方面的关键问题。

现代表面分析技术在半导体材料中的应用

本文简要介绍TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱仪)、XRD(X射线双晶衍射仪)、SIMS(二次离子质谱仪)和XPS(X射线光电子能谱仪)等现代分析仪器的特点,着重报道这些分析技术在分析砷化镓抛光片的表面痕量沾污、表面晶体完整性、表面镓砷比、表面化学组成、表面氧含量以及氧化层厚度等方面的应用。