双模测量法消除编码孔成像的近场伪影

在编码孔成像技术中,由于存在近场伪影的干扰,降低了重建图像质量。为了消除这一影响,本文通过分析近场伪影的产生和消除原理,采用Geant4程序模拟了近场条件下300 keV单能源,通过MURA(19×19)嵌套编码孔成像,分别获得了单模和双模测量条件下重建得到的源分布图像。结果显示,单模测量得到的图像带有显著的近场伪影,而双模测量得到的图像中近场伪影得以消除。实际相机测量实验也获得了类似的结果。因此,与传统的单模测量法相比,双模测量法可以有效抑制和消除编码孔成像中的近场伪影,从而增强图像信噪比。