电子封装失效分析新技术——双波透射SAM

介绍了在反射式SAM技术基础上开发的一种失效分析新技术——双波透射SAM技术的原理和应用特点。该技术依据声波在界面的反射系数R与材料声阴Z的关系，采用双程透射方法，通过入射和反射声波强度的地比分析，对界面缺陷进行定位，它是解决传统反射式SAM技术不能准确探测复杂结 构界面缺陷，替代（单波）透射技术的又一新方法。