双狭缝扫描法测量激光光束质量

现有激光光束质量的测量方法无法同时兼顾测量速度与测量精度。为了达到兼顾速度与精度的目的,提出了双狭缝扫描法。此方法不需要在光路中使用衰减器,从而降低了数据分析复杂度。选用嵌入式技术完成对整个系统的控制与数据处理,便于携带,可实现对数据的实时处理;同时进行了理论分析和实验验证。结果表明,该方法可实现快速同步测量两轴的功率分布,动态范围可达到70d B,扫描频率为2Hz^18Hz,可用于分析连续或脉冲激光光束。该方法对兼顾测量速度与精度是有帮助的。