降膜波动特性的研究

本文提出了一种测定膜厚的新方法——双电导探针法,测定了高湍流降膜的厚度沿降膜管管程的变化情况,探讨了径向平均膜厚及膜厚的概率密度分布沿管程的变化规律,证明降膜的波动特性同时受到液相雷诺数和管程的影响。并对平均膜厚和液相雷诺数作了经验关联,得出N_T=(δ^+)^(2/3)=[8.92(Re_L/4)^(5/2)+6.0×10^(-6)(Re_L/4)^(9/2)]^(2/15)