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用双视场电子散斑干涉实现检测表面的变尺度同时测量
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作者 邓兵 李喜德 +1 位作者 施惠基 胡小方 《实验力学》 CSCD 北大核心 2003年第4期433-439,共7页
结构或材料中所含的微小缺陷对其宏观力学性能具有重要的影响,探讨这些微小缺陷引起的微变形及其在结构整体变形中所占的份额,对于有效地评估结构和材料的整体性能及局部演化过程都具有重要的理论和工程价值.本文应用双视场电子散斑干... 结构或材料中所含的微小缺陷对其宏观力学性能具有重要的影响,探讨这些微小缺陷引起的微变形及其在结构整体变形中所占的份额,对于有效地评估结构和材料的整体性能及局部演化过程都具有重要的理论和工程价值.本文应用双视场电子散斑干涉技术,实现了对被测对象表面的全场变形和局部微观场变形的同时实时检测.给出了宏观及局部位移场分布,并结合有限元数值分析与实验结果进行了比较. 展开更多
关键词 双视场电子散斑干涉 变尺度测量 材料力学性能 变形测量 有限元数值分析 缺陷检测 位移分布
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