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双谱成像及其未来发展
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作者 邓罗根 《高技术通讯》 EI CAS CSCD 1998年第4期57-59,共3页
回顾了双谱成像方法的基本原理,考察了它与其它高分辨率技术特别是与自适应光学相融合技术的未来发展问题。
关键词 双谱成像 斑纹干涉量度术 自适应光学 高分辨
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