复合材料的相控阵超声C扫描成像检测

为了实现复合材料的大面积快速C扫描检测以及特殊位置的双轴定位C扫描检测,结合相控阵超声C扫描成像检测技术,开发了滚轮探头单轴C扫描检测系统用于复合材料大面积快速扫查,双轴拉线编码器定位C扫描检测系统用于特定位置的双轴定位C扫描检测。试验结果表明,滚轮探头C扫描检测系统耦合效果好,扫查速度快,特别适合航空航天领域复合材料的快速C扫描检测;双轴拉线编码器定位C扫描检测系统对特定区域进行C扫描检测,具有扫查定位准确、探头移动灵活、重复覆盖性好、对缺陷精确定量的优点。