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双卡簧片失效分析
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作者 樊新民 王建平 《理化检验(物理分册)》 CAS 2000年第2期83-85,共3页
采用光学金相、扫描电镜、电子探针成分分析和显微硬度测定等方法分析了双卡簧片非正常断裂的原因。在部分双卡簧片折弯处发现有尖锐凹角并有明显微裂纹 ,裂纹表面有镍和铜 ,说明裂纹是在成形加工过程中形成。
关键词 金相 扫描电镜 失效分析 双长簧片
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