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Hg_(1-x)Cd_xTe反型层子能带结构的实验研究
被引量:
2
1
作者
褚君浩
R.Sizmann
+2 位作者
F.Koch
J.Ziegler
H.Maier
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990年第5期332-340,共9页
本文在4.2K下测定了液相外延HgCdTe MIS结构样品的电容谱,磁阻振荡以及迴旋共振效应,并从实验测量结果,采用物理参数拟合法,确定了该样品在电量子限条件下反型层电子子能带结构,包括基态子能带能量E_o、费密能级E_F,子能带电子有效质量m...
本文在4.2K下测定了液相外延HgCdTe MIS结构样品的电容谱,磁阻振荡以及迴旋共振效应,并从实验测量结果,采用物理参数拟合法,确定了该样品在电量子限条件下反型层电子子能带结构,包括基态子能带能量E_o、费密能级E_F,子能带电子有效质量m~*(E_F)、m~*(E_o)、反型层平均厚度Z_i、耗尽层厚度Z_d,以及它们随子能带电子浓度N_s的变化。
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关键词
HGCDTE
能带结构
反型层子
实验
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职称材料
题名
Hg_(1-x)Cd_xTe反型层子能带结构的实验研究
被引量:
2
1
作者
褚君浩
R.Sizmann
F.Koch
J.Ziegler
H.Maier
机构
中国科学院上海技术物理研究所国家红外物理实验室
Physik-Department E-
AEG
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990年第5期332-340,共9页
基金
国家自然科学基金
文摘
本文在4.2K下测定了液相外延HgCdTe MIS结构样品的电容谱,磁阻振荡以及迴旋共振效应,并从实验测量结果,采用物理参数拟合法,确定了该样品在电量子限条件下反型层电子子能带结构,包括基态子能带能量E_o、费密能级E_F,子能带电子有效质量m~*(E_F)、m~*(E_o)、反型层平均厚度Z_i、耗尽层厚度Z_d,以及它们随子能带电子浓度N_s的变化。
关键词
HGCDTE
能带结构
反型层子
实验
Keywords
2 DEG
Subband
HgCdTe
Surface
Interface
分类号
O471.5 [理学—半导体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Hg_(1-x)Cd_xTe反型层子能带结构的实验研究
褚君浩
R.Sizmann
F.Koch
J.Ziegler
H.Maier
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1990
2
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