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反射干涉光谱法测定分子印迹敏感膜表面吸附的分子浓度 被引量:1
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作者 刘冬梅 王永向 +2 位作者 刘秋明 戎非 付德刚 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2010年第6期601-603,共3页
采用旋转涂膜法在镀有五氧化二钽增强层的载玻片上制备氯霉素分子印迹敏感膜,将印迹敏感膜玻片置入不同浓度氯霉素溶液中进行吸附试验,采用反射干涉光谱检测印迹膜吸附前后的光学厚度变化值(Δnd),溶液浓度与Δnd之间呈线性关系,线性回... 采用旋转涂膜法在镀有五氧化二钽增强层的载玻片上制备氯霉素分子印迹敏感膜,将印迹敏感膜玻片置入不同浓度氯霉素溶液中进行吸附试验,采用反射干涉光谱检测印迹膜吸附前后的光学厚度变化值(Δnd),溶液浓度与Δnd之间呈线性关系,线性回归方程为Δnd=-0.37+0.20c,检出限(3s/k)为0.15 mmol.L-1。该法用于加标蜂蜜样品中氯霉素的测定,所得结果与高效液相色谱法测定结果相符,回收率为96.5%,相对标准偏差(n=5)为0.8%。 展开更多
关键词 分子印迹敏感膜 旋转涂膜法 氯霉素 反射干涉光谱法
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光纤测厚中光谱“双峰”现象的分析 被引量:3
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作者 孙艳 赵宏 王昭 《半导体光电》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第4期356-358,共3页
在用反射干涉频谱法(Rifs)测量薄膜厚度的过程中,薄膜的反射光谱经常见到“双峰”现象,即相邻的波峰(或波谷)连在一起,区别于通常按吸收曲线有规律分布的光谱。对该现象进行了深入研究,结果表明:该现象和被测试处薄膜厚度不均匀有关,当... 在用反射干涉频谱法(Rifs)测量薄膜厚度的过程中,薄膜的反射光谱经常见到“双峰”现象,即相邻的波峰(或波谷)连在一起,区别于通常按吸收曲线有规律分布的光谱。对该现象进行了深入研究,结果表明:该现象和被测试处薄膜厚度不均匀有关,当厚度差异较大时,入射光在薄膜的不同厚度点发生反射,各点的反射干涉光谱叠加就会产生“双峰”的结果。对基本厚度为2 000 nm的聚苯乙烯薄膜的仿真结果表明:膜厚差异超过1/10,开始出现双峰。研究还表明,“双峰”现象并不影响厚度计算的准确度。 展开更多
关键词 反射干涉光谱法 薄膜 光谱 光纤
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经验模式分解法在薄膜光谱研究中的应用
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作者 张璐 赵宏 朱永凯 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第8期1439-1442,共4页
应用经验模式分解方法分析薄膜光谱,并且用该方法处理所得的薄膜反射干涉光谱曲线计算薄膜厚度,测量误差为1.51%.证明了经验模式分解方法在光谱信号处理过程中的可靠性.
关键词 光学特性 经验模式分解法 反射干涉光谱法 薄膜
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基于二氧化硅胶体晶体薄膜和反射干涉光谱的蛋白冠监测方法
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作者 吴峰 苏倩倩 +3 位作者 周乐乐 许鹏飞 董傲 钱卫平 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2021年第3期338-343,共6页
生物分子与纳米材料作用形成的“蛋白冠”影响纳米材料的物理和化学性质,目前缺少有效的原位实时技术监测蛋白冠的形成过程.本研究基于二氧化硅胶体晶体薄膜和反射干涉光谱法,研究了三种代表性血液蛋白质在二氧化硅纳米粒子表面的蛋白... 生物分子与纳米材料作用形成的“蛋白冠”影响纳米材料的物理和化学性质,目前缺少有效的原位实时技术监测蛋白冠的形成过程.本研究基于二氧化硅胶体晶体薄膜和反射干涉光谱法,研究了三种代表性血液蛋白质在二氧化硅纳米粒子表面的蛋白冠形成过程,结果表明这三种蛋白具有不同的蛋白冠形成过程及参数;研究了人血清白蛋白在三种表面曲率的二氧化硅表面的蛋白冠形成过程,结果表明曲率越大时,蛋白冠形成速率越快,厚度越大.以血浆和全血样品为生物环境开展蛋白冠形成过程研究,结果表明本研究的监测方法可以直接用于血浆和全血在纳米粒子表面蛋白冠的形成过程监测,为纳米材料与生物分子的相互作用研究提供了一种简单可靠的评价技术. 展开更多
关键词 血浆蛋白 蛋白冠 反射干涉光谱法 二氧化硅胶体晶体薄膜 有序多孔层干涉测量技术
原文传递
薄膜表面不平度对厚度测试准确度影响的研究 被引量:2
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作者 孙艳 赵宏 王昭 《半导体光电》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第2期112-114,共3页
在用反射干涉频谱法(Rifs)测量薄膜厚度的过程中,使用“Y”型光纤作为传光的媒介,光纤测试端发射出的光照射到薄膜上,反射光又回到了该光纤中。对反射光进行频谱分析可以计算出薄膜测试处的厚度。由于是光学非接触式测量,而光束又有发散... 在用反射干涉频谱法(Rifs)测量薄膜厚度的过程中,使用“Y”型光纤作为传光的媒介,光纤测试端发射出的光照射到薄膜上,反射光又回到了该光纤中。对反射光进行频谱分析可以计算出薄膜测试处的厚度。由于是光学非接触式测量,而光束又有发散性,所以薄膜的表面不平度以及光纤相对于薄膜的位置直接影响测试的准确度。对该现象的研究表明:为提高测试准确度,必须尽量减少光纤的有效照射面积,以及保证薄膜基底的光滑,给出了具体方法。为保证薄膜上的反射光束能够回到光纤内部而不丢失厚度信息,给出了薄膜微观倾斜的极限角度。给出了光纤测试薄膜中“平均厚度”和“有效照射面积”的构想。 展开更多
关键词 反射干涉光谱法 薄膜 光纤 表面
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