1
|
反射干涉光谱法测定分子印迹敏感膜表面吸附的分子浓度 |
刘冬梅
王永向
刘秋明
戎非
付德刚
|
《理化检验(化学分册)》
CAS
CSCD
北大核心
|
2010 |
1
|
|
2
|
光纤测厚中光谱“双峰”现象的分析 |
孙艳
赵宏
王昭
|
《半导体光电》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2005 |
3
|
|
3
|
经验模式分解法在薄膜光谱研究中的应用 |
张璐
赵宏
朱永凯
|
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2007 |
0 |
|
4
|
基于二氧化硅胶体晶体薄膜和反射干涉光谱的蛋白冠监测方法 |
吴峰
苏倩倩
周乐乐
许鹏飞
董傲
钱卫平
|
《化学学报》
SCIE
CAS
CSCD
北大核心
|
2021 |
0 |
|
5
|
薄膜表面不平度对厚度测试准确度影响的研究 |
孙艳
赵宏
王昭
|
《半导体光电》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2005 |
2
|
|