微波暗室反射率电平论述分析

本文通过对微波暗室进行概述,对小型微波暗室反射电平测试原理及步骤进行明确,为其他测试过程提供参考。随着5G通信、物联网等技术加快应用和持续发展,无线设备数量呈现出大规模增长。并且,各类设备体积也开始向着小型化趋势发展,无线设备测试需求量得到更大速度增长,这就对测试技术进行调整优化,加快对微波暗室进行使用,有利于更好提升测试效率。加上,微波暗室往往占地空间小、使用成本低、测试功能全面等优势受到通信测试行业的欢迎。

微波暗室静区反射率电平的能量法仿真

为提高微波暗室静区反射率电平在低频段的仿真计算精度,基于惠更斯原理和余弦辐射体的辐射通量计算公式,推导静区内某一点的直接辐射功率和来自室内6个面的间接辐射功率公式。在此基础上,得到微波暗室静区反射率电平能量法仿真计算模型。最后利用Matlab软件编程,对一个小型手机天线测试用微波暗室静区3个截面上的反射率电平进行能量法仿真计算。结果表明,能量法仿真得到的结果相比几何光学法更符合实际电磁波空间连续分布的特点。

微波暗室反射率电平对微波场强校准的影响

论述了微波暗室静区反射率电平的测量方法和微波场强校准原理,分析了反射率电平对标准场法微波场强校准的影响。

微波暗室反射率电平自动校准方法及测量不确定度

通过开展1-40 GHz微波暗室性能自动校准技术研究,研制了低反射8维度空间测试支架,降低了测试装置微波干扰;开发了基于Labview 8.6环境的测试系统控制软件,实现信号调整和收发天线的相对运动;本文就微波暗室自动校准系统静区反射率电平测量不确定度进行了分析和评定。

微波暗室反射率电平论述

论述了微波暗室静区反射率电平的测量原理及方法。

微波暗室静区反射率电平的数据处理方法

微波暗室是工作在微波频段的暗室,是天线、目标散射特性等领域测量中使用的实验场地,用来模拟自由空间,相比与室外测试场,具有全天候、低反射的优势。实际应用中,由于内部铺设的吸波材料无法完全吸收特定频段电磁波等原因,暗室中的测试区域仍会有干扰的反射信号存在,这些反射信号从各个方向进入测试区域并与收发天线之间的直射波叠加,在测试区域内一定行程上形成空间驻波分布。测试区域内的干扰反射指标用静区反射率电平表征。将微波暗室用于天线辐射方向图等参数测量时,应评估暗室中不同角度的静区反射率电平。微波暗室静区反射率电平测量方法常采用自由空间电压驻波比(Voltage Standing Wave Ratio,VSWR)法。测试区域中直射信号和反射信号的矢量和一定行程上形成空间驻波,空间驻波的数据处理方式决定了静区反射率电平计算结果,实际测试曲线中驻波峰峰值的选择方式直接决定了测量结果。详细讨论了微波暗室内反射率电平的采集数据和处理方法,有助于优化现场测量测试的测试方案,并对静区扫描架的优化设计有积极意义。

紧凑天线测试埸设计考虑

众所周知,测量天线方向性图时必须满足一个基本条件,即被测天线所接收的电波应是一个平面波。实际上,作为波源的天线,它所辐射的电波在远区常是一个球面波。为了取球面波的一部份去逼近平面波,波源天线与被测天线之间的距离要求很大,通常为30～1000米。确定距离的原则是,在被测天线口径上,中心与边缘处的场的相位差至少小于π/8。

制导舱微波暗室静区性能的测量方法

介绍了制导舱测试系统组成及制导舱微波暗室功能,给出基于空间驻波法测试原理的制导舱微波暗室静区反射率电平测试方法,并以实测为例,详细介绍了测试过程、系统组成及测试数据处理方法。对制导舱微波暗室静区性能的评估和检测具有一定的指导作用。

微波暗室静区性能评测及不确定度分析

微波暗室广泛用于天线、目标散射特性测量、雷达成像等领域,是微波频段最重要的测试场地之一。微波暗室建设投入较高,其静区性能取决于其内壁铺设的吸波材料特性及其布置,静区指标直接影响使用该暗室测试的设备测量结果准确度。因此如何测量得到准确的微波暗室静区指标是微波暗室验收中必不可少的环节,也是微波暗室环境对测量结果贡献评估的基础。针对微波暗室静区的关键指标——静区反射率电平的测量方法进行研究,针对中大型微波暗室,建立最大行程4 m的基于三维扫描架的静区测量系统,覆盖频率范围1~40 GHz。利用其开展微波暗室静区的测量,给出静区反射率电平的测量结果,并进行了测量系统影响量的全面分析和测量结果不确定度评定。结果表明,以1.1 GHz为例,该系统静区反射率电平在−33 dB的情况下,测量不确定度为1.72 dB(k=2)。