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离子轰击对反应性溅射合成氮化硼薄膜的影响
1
作者 马兵 《等离子体应用技术快报》 2000年第12期21-23,共3页
关键词 离子轰击 反应性溅射合成 氮化硼薄膜 影响
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离子轰击对用rf磁控管反应性溅射和ECRPACVD法沉积的CNx和CNxHy膜的作用
2
作者 蓉佳 《等离子体应用技术快报》 2000年第11期22-24,共3页
关键词 离子轰击 RF磁控管反应性溅射 ECRPACVD法 薄膜
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利用AC双磁控管阴极在大尺寸基体上进行反应性溅射电介质层
3
作者 笑生 《等离子体应用技术快报》 1999年第3期7-8,共2页
关键词 磁控管 反应性溅射 二氧化硅 薄膜
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反应性磁控管溅射在玻璃上制备大面积抗反射涂层
4
作者 豫民 《等离子体应用技术快报》 1999年第12期6-8,共3页
关键词 反应磁控管溅射 玻璃 大面积抗反射涂层 薄膜
全文增补中
在不同氮分压下用dc反应性粒子磁控油射法制备TiN膜
5
作者 卫冰 《等离子体应用技术快报》 1997年第12期7-9,共3页
关键词 氮化钛膜 氮分压 dc反应粒子磁控溅射
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CdIn_2O_4薄膜气敏特性的研究
6
作者 董玉峰 廖克俊 +1 位作者 王万录 王蜀霞 《广西师范大学学报(自然科学版)》 CAS 2000年第S2期4-7,共4页
在 Ar+O2 混合气体中用射频反应性溅射方法制备了纯的和 Pt掺杂的 Cd In2 O4薄膜 ,用 XRD,AES等方法分析了薄膜的结构和化学成分 .测试了两种薄膜对酒精气体的气敏特性 ,包括灵敏度随温度、气体浓度的变化以及传感器元件的响应曲线 ,并... 在 Ar+O2 混合气体中用射频反应性溅射方法制备了纯的和 Pt掺杂的 Cd In2 O4薄膜 ,用 XRD,AES等方法分析了薄膜的结构和化学成分 .测试了两种薄膜对酒精气体的气敏特性 ,包括灵敏度随温度、气体浓度的变化以及传感器元件的响应曲线 ,并对气敏机理进行了讨论 . 展开更多
关键词 射频反应性溅射 CdIn2O4薄膜 气敏特
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提高DC平面磁控溅射中靶材利用率的新方法
7
作者 周勇 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2005年第6期698-699,共2页
目前已得到广泛应用的DC平面磁控反应性溅射制备ZnO压电薄膜,由于靶面氧化和靶表面氧化物的沉积,导致放电电阻增加和靶表面的弧光放电,严重影响压电薄膜的生长和靶材利用率。该文介绍了一种采用稀硝酸对已被氧化的金属锌靶进行清洗... 目前已得到广泛应用的DC平面磁控反应性溅射制备ZnO压电薄膜,由于靶面氧化和靶表面氧化物的沉积,导致放电电阻增加和靶表面的弧光放电,严重影响压电薄膜的生长和靶材利用率。该文介绍了一种采用稀硝酸对已被氧化的金属锌靶进行清洗的新方法,效果良好,靶材利用率提高3~4倍。 展开更多
关键词 金属Zn靶 ZNO压电薄膜 反应性溅射 靶材利用率
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高功率脉冲磁控溅射制备非晶碳薄膜研究进展 被引量:17
8
作者 左潇 孙丽丽 +1 位作者 汪爱英 柯培玲 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第9期53-63,共11页
非晶碳薄膜主要由sp^3碳原子和sp^2碳原子相互混杂的三维网络构成,具有高硬度、低摩擦系数、耐磨损、耐腐蚀以及化学稳定性等优异性能。然而传统制备方法难以实现薄膜结构及其性能的综合调控,高功率脉冲磁控溅射因其离子沉积特性受到领... 非晶碳薄膜主要由sp^3碳原子和sp^2碳原子相互混杂的三维网络构成,具有高硬度、低摩擦系数、耐磨损、耐腐蚀以及化学稳定性等优异性能。然而传统制备方法难以实现薄膜结构及其性能的综合调控,高功率脉冲磁控溅射因其离子沉积特性受到领域内专家学者的关注。总结了近年来关于高功率脉冲磁控溅射制备非晶碳薄膜材料的研究进展。重点介绍了高功率脉冲磁控溅射石墨靶的放电特性,指出了其在沉积非晶碳薄膜过程中获得高碳原子离化率的条件。针对离化率和沉积速率低,主要从提高碳原子离化率和碳离子传输效率等角度,介绍了几种改进的高功率脉冲磁控溅射方法。并对比了不同高功率脉冲磁控溅射方法中的碳原子离化特征、薄膜沉积速率、结构和力学性能。进一步地,探讨了高功率脉冲磁控溅射在制备含氢非晶碳薄膜和金属掺杂非晶碳薄膜中的优势及其在燃料电池、生物、传感等前沿领域的应用。最后,对高功率脉冲磁控溅射石墨靶的离子沉积特性、非晶碳薄膜制备及其应用研究趋势进行了展望。 展开更多
关键词 高功率脉冲磁控溅射 非晶碳薄膜 放电特征 沉积速率 反应磁控溅射 金属掺杂非晶碳薄膜
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多晶SiC薄膜的生长及其压阻特性 被引量:5
9
作者 蔡浩一 《传感器技术》 CSCD 1995年第4期7-9,12,共4页
在Ar、CH4的混合气体中用反应性磁控溅射法生长了多品SiC薄膜。溅射靶使用了单晶硅片。SiC薄膜的生长速率10~40nm/min。Ar的分压为60mtorr(1torr=133.322Pa,以下同),CH4的分压为... 在Ar、CH4的混合气体中用反应性磁控溅射法生长了多品SiC薄膜。溅射靶使用了单晶硅片。SiC薄膜的生长速率10~40nm/min。Ar的分压为60mtorr(1torr=133.322Pa,以下同),CH4的分压为40mtorr,衬底温度为750℃时,薄膜具有显著的多晶特性。杂质浓度、Hall迁移率、电阻率分别为10(18)cm(-3)、10cm(2)/V·s、10(-1)10(-2)Ωcm。压阻系数约为15。 展开更多
关键词 薄膜 多晶 反应磁控溅射 压阻效应 碳化硅
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Characterization and Stability of Na-doped p-type ZnO Thin Films Preparation by Reactive DC Magnetron Sputtering 被引量:1
10
作者 JI Zhen-guo LIU Fang +1 位作者 HE Hai-yan HAN Wei-zhi 《Semiconductor Photonics and Technology》 CAS 2009年第3期139-144,172,共7页
Na-doped p-type ZnO thin films have been realized by DC reactive magnetron sputtering with a set of metal-Zn targets doped with various Na contents and under different substrate temperatures, respectively. Hall effect... Na-doped p-type ZnO thin films have been realized by DC reactive magnetron sputtering with a set of metal-Zn targets doped with various Na contents and under different substrate temperatures, respectively. Hall effect measurement, field-emission SEM, X-ray diffraction and optical transmission were carried out to investigate the effects of Na content and substrate temperature on the properties of p-type films. Results indicate that all the Na-doped ZnO films are strongly (002) oriented, and have an average transmittance -85 % in the visible region. Na-doped p-type ZnO films with good structural, electrical, and optical properties can only be obtained at an intermediate amount of Na content and under appropriate substrate temperature. At the optimal condition, the Na-doped p-type ZnO has the lowest resistivity of 13. 8 Ω· cm with the carrier concentration as high as 1.07 × 10^18 em^-3. The stability of the Na-doped p-type ZnO is also studied in this paper and it is found that the electrical properties keep stable in a period of one month. 展开更多
关键词 p-type ZnO Na-doped electrical properties STABILITY
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Epitaxial α″-Fe_(16)N_2 Films Grown on NaCl (001) by Facing Target Sputtering
11
作者 赵慈 姜恩永 +2 位作者 许英华 张宝峰 吴萍 《Transactions of Tianjin University》 EI CAS 2003年第2期109-111,共3页
There is a gr eat interest in obtaining epitaxial α″ nitride phase of iron because of their special ferromagnetic properties. α″ Fe 16 N 2 thin films have been prep ared by facing target sputtering (FTS) onto NaCl... There is a gr eat interest in obtaining epitaxial α″ nitride phase of iron because of their special ferromagnetic properties. α″ Fe 16 N 2 thin films have been prep ared by facing target sputtering (FTS) onto NaCl (001) substrates in a mixture of argon(Ar) and N 2 gases. The base pressure was 6×10 -5 Pa. During sput tering, the partial pressures of Ar and N 2 gases were kept constant at 0.3 Pa and 0.05 Pa respectively. The deposition rate was about 0.2 nm/s. The substrate temperature was held at about 100 ℃. Annealing of the films was sequentially ca rried out at 150 ℃ for 1 h in vacuum ( at least 10 -4 Pa ) to obtain α″ phase. Transmission electron microscope (TEM) observations and X ray diffract ion (XRD) patterns showed that the α″ Fe 16 N 2 epitaxially grew on the NaCl substrates. It was found that the arrangement of the SAD patterns exhibits perfect symmetries.By using super lattice reflections, the lattice constants a=b=(5.71±0.02)×10 -1 nm and c=(6.30±0.04) ×10 -1 nm of the α″ phase with a body centered tetragonal (BCT) structu re were determined, which was very close to the results obtained by Jack (a=b= 5.72×10 -1 nm, c= 6.29×10 -1 nm). The X ray diffraction patterns and the selected area diffraction patterns showed t hat α″ Fe 16 N 2 epitaxially grew on the NaCl (001) substrate with orien tation relationships α″ Fe 16 N 2 (001) ‖NaCl (001),α″ Fe 16 N 2 ‖NaCl . 展开更多
关键词 magnetic moment facing target sputte ring structure
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