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Si基的RICBD法生长GaN薄膜 被引量:2
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作者 蔡先体 黄启俊 +3 位作者 黄浩 孟宪权 郭怀喜 范湘军 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2001年第1期26-30,共5页
讨论了反应离化团簇束沉积 (RICBD)方法的原理和特点 ,利用改进的双气流方式和ZnO缓冲层技术在Si衬底上生长GaN薄膜 ,并用XPS、XRD和PL对样品进行了测试分析 ,证实形成了良好的GaN薄膜。
关键词 反应离化团簇束沉积 钙薄膜 硅基
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