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Si基的RICBD法生长GaN薄膜
被引量:
2
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作者
蔡先体
黄启俊
+3 位作者
黄浩
孟宪权
郭怀喜
范湘军
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第1期26-30,共5页
讨论了反应离化团簇束沉积 (RICBD)方法的原理和特点 ,利用改进的双气流方式和ZnO缓冲层技术在Si衬底上生长GaN薄膜 ,并用XPS、XRD和PL对样品进行了测试分析 ,证实形成了良好的GaN薄膜。
关键词
反应离化团簇束沉积
氮
化
钙薄膜
硅基
下载PDF
职称材料
题名
Si基的RICBD法生长GaN薄膜
被引量:
2
1
作者
蔡先体
黄启俊
黄浩
孟宪权
郭怀喜
范湘军
机构
武汉大学物理系
出处
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第1期26-30,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目(19775036)
文摘
讨论了反应离化团簇束沉积 (RICBD)方法的原理和特点 ,利用改进的双气流方式和ZnO缓冲层技术在Si衬底上生长GaN薄膜 ,并用XPS、XRD和PL对样品进行了测试分析 ,证实形成了良好的GaN薄膜。
关键词
反应离化团簇束沉积
氮
化
钙薄膜
硅基
Keywords
reactive ionized cluster beam deposition
GaN films
buffer layer
分类号
TN304.055 [电子电信—物理电子学]
O484.1 [理学—固体物理]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Si基的RICBD法生长GaN薄膜
蔡先体
黄启俊
黄浩
孟宪权
郭怀喜
范湘军
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
2001
2
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职称材料
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