γ能谱中不同衬底材料的反散射峰研究

在利用不同材料作为１３７Ｃｓ放射源的衬底时，γ能谱中的反散射峰显著不同。反散射峰的大小在一定程度上可由金属的近电子理论予以定量解释，但Ａｌ的反散射峰却与其电子密度不相对应，有待于进一步研究。

抑制NaI(Tl)谱仪中反散射峰的简便实验方法

本文通过控制变量的对比实验方法,系统研究了NaI(Tl)谱仪中反散射峰产生的原因以及影响其大小的因素.结果发现衬底材料、衬底厚度、源仪距、源衬底距、闪烁体的包装材料和闪烁体的尺寸均对反散射峰有不同程度的影响.经过对比分析,找到了几种抑制反散射峰的简便易行的实验方法.

NaI(Tl)谱仪中反散射峰的影响因素研究

本文利用Geant4和分离变量的方法,模拟了衬底材料、以及闪烁体的包装材料对反散射峰计数大小的影响.使用不同衬底材料时,模拟产生的反散射峰与全能峰计数比例、不同材料的饱和厚度值,与实验结果一致.本文还模拟了反散射峰计数随着闪烁体包装材料的厚度,以及闪烁体的长度、横截面积和体积的变化关系,找到了抑制由此产生反散射峰本底的方法.

γ射线测距中散射光子影响因素的蒙特卡罗模拟

基于散射光子的γ射线测距技术,具有测距精度高、响应速度快、可靠性高、体积小、重量轻等特点,适用于在苛刻空间环境中实现近距离高精度的高度测量。本文采用蒙特卡罗程序MCNP建立模型,模拟不同条件下散射光子的能量、强度的变化规律,分析了探测距离、源-探距离、γ射线能量、靶目标厚度以及靶目标材料的变化对反散射峰光子能量与强度的影响,得出以下结论:反散射峰光子能量与靶目标厚度(>7 cm)、靶目标材料无关,与γ射线能量、源-探距离正相关,与探测距离负相关;反散射峰光子强度与靶目标厚度(>7 cm)无关,与探测距离正相关,与γ射线能量、源-探距离、靶目标材料负相关。对于不同靶目标材料,模拟计算的反散射峰光子能量分布区间与理论计算结果一致,证实本文γ射线散射光子测距技术的仿真方法可行、结果可信。