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应用于变化条件下延时分析的反相器模型 被引量：1
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作者 王新胜 喻明艳 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第7期1448-1452,共5页
本文提出了一个考虑衬底耦合效应的门延迟模型.该模型在考虑衬底耦合效应下转换CMOS反相器的延迟为等效电阻和电容(RC)网络延迟.考虑工艺参数扰动和衬底耦合效应对门延时的影响,建立基于工艺扰动的简单开关电容门延迟模型,结合随机配置... 本文提出了一个考虑衬底耦合效应的门延迟模型.该模型在考虑衬底耦合效应下转换CMOS反相器的延迟为等效电阻和电容(RC)网络延迟.考虑工艺参数扰动和衬底耦合效应对门延时的影响,建立基于工艺扰动的简单开关电容门延迟模型,结合随机配置法和多项式的混沌展开法分析门延时.利用数值计算方法对本模型和分析方法进行验证,结果表明与HSPICE精确模型仿真结果的相对误差小于2%,证明本模型和分析方法的有效性. 展开更多
关键词 工艺变化 反相器门延时模型 衬底耦合效应 多项式混沌
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