基于反相条纹投影技术测量大范围变化的面形

在较高精度面形测量的光学方法中,很多测量范围都受到光波波长的限制。简述了一种利用光栅投影系统来增强其垂直方向测量范围的新方法。通过投影仪来产生能够消除表面低频变化影响的变形光栅,测量该栅线经过被检面的变形图像,通过处理得到表面的高频信息,然后将高频和低频信息叠加得到表面轮廓图。通过实验模型的建立证明,该方法具有测量精度范围宽,能实时地得到表面轮廓图。