薄膜闪烁体发光强度空间分布实验研究

塑料薄膜闪烁体在辐射作用下发射荧光的空间分布对于设计和优化闪烁探测器结构,提高测量的信噪比具有重要意义。利用平均能量为1.25 MeV的60Coγ射线源辐照0.5 mm厚的BC418薄膜闪烁体圆片,使其发射荧光,用光电倍增管测量薄膜发光在空间不同角度方向的相对强度,然后将薄膜侧面涂黑再进行测量,从而得到薄膜侧面的发光分布。实验结果表明,薄膜闪烁体发光在与法线成70°夹角附近有极大值,并验证了理论分析得到的由于在薄膜的表面发生全反射,薄膜闪烁体发射的荧光有较多份额传向边缘而由侧面出射的结论。