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发光二极管的光轴测量
1
作者
洪汝渝
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
1998年第6期397-399,共3页
提出对光电传感器使用的发光二极管进行光轴测量的必要性,并采用面积加权平均法对其进行测量。得到芯片位置变化及芯片加载电流变化对光轴位置的影响。
关键词
发光
二极管
光轴
发光重心
测量
下载PDF
职称材料
题名
发光二极管的光轴测量
1
作者
洪汝渝
机构
渝州大学
出处
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
1998年第6期397-399,共3页
文摘
提出对光电传感器使用的发光二极管进行光轴测量的必要性,并采用面积加权平均法对其进行测量。得到芯片位置变化及芯片加载电流变化对光轴位置的影响。
关键词
发光
二极管
光轴
发光重心
测量
Keywords
Light Emitting Diode,Optical Axis,Centre of Light Emitting Area,Measurement
分类号
TN383.07 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
发光二极管的光轴测量
洪汝渝
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
1998
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