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发光二极管的光轴测量
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作者 洪汝渝 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1998年第6期397-399,共3页
提出对光电传感器使用的发光二极管进行光轴测量的必要性,并采用面积加权平均法对其进行测量。得到芯片位置变化及芯片加载电流变化对光轴位置的影响。
关键词 发光二极管 光轴 发光重心 测量
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