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晶体管发射区归一化面积的温度谱
被引量:
3
1
作者
苗庆海
杜文华
+2 位作者
张兴华
吴洪江
张德骏
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第12期53-56,共4页
从芯片表面的红外热像图中提取出了发射区热像图,提出了一种定量描述晶体管结温不均匀性的新方法,即发射区热谱分析方法。发射区热谱是发射区归一化面积的温度谱,也就是发射区温度所占有的发射区归一化面积对温度的直方图。本文提供了...
从芯片表面的红外热像图中提取出了发射区热像图,提出了一种定量描述晶体管结温不均匀性的新方法,即发射区热谱分析方法。发射区热谱是发射区归一化面积的温度谱,也就是发射区温度所占有的发射区归一化面积对温度的直方图。本文提供了由红外热像图导出发射区热谱的过程及结果。
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关键词
芯片表面
红外
热像
图
发射区热像图
晶体管结温不均匀性
发射区
热
谱
红外
热像
峰值结温
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职称材料
题名
晶体管发射区归一化面积的温度谱
被引量:
3
1
作者
苗庆海
杜文华
张兴华
吴洪江
张德骏
机构
山东大学物理与微电子学院
中国电子科技集团公司第十三研究所
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第12期53-56,共4页
基金
国家自然科学基金项目(69946001)
文摘
从芯片表面的红外热像图中提取出了发射区热像图,提出了一种定量描述晶体管结温不均匀性的新方法,即发射区热谱分析方法。发射区热谱是发射区归一化面积的温度谱,也就是发射区温度所占有的发射区归一化面积对温度的直方图。本文提供了由红外热像图导出发射区热谱的过程及结果。
关键词
芯片表面
红外
热像
图
发射区热像图
晶体管结温不均匀性
发射区
热
谱
红外
热像
峰值结温
Keywords
infrared image
peak junction temperature
thermal spectrum
分类号
TN32 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
晶体管发射区归一化面积的温度谱
苗庆海
杜文华
张兴华
吴洪江
张德骏
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2003
3
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职称材料
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参考文献
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