某发射筒端盖密封失效分析

某发射筒端盖在周转过程中出现密封失效,通过理化检验和失效模拟试验等方法,对该端盖密封失效的原因进行了分析。结果表明:端盖外表面在周转过程中受到机械外力作用产生了裂纹,裂纹不断扩展导致泄漏失效;将包装箱内缓冲材料厚度适当增加,使发射筒与缓冲材料的间隙小于1mm,可有效避免此类失效的发生。

某发射筒端盖开盖性能异常原因

某发射筒端盖在进行开盖性能测试时出现形态异常现象。采用X射线检测、仿真分析等方法对该端盖形态异常的原因进行了分析。结果表明:端盖中的金属增强材料偏移至应力沟槽,试验方法选用不当,导致了该端盖在测试时形态异常;X射线检测可以发现端盖中的金属增强材料偏移至应力沟槽,动态开盖试验方法也可以避免端盖在测试时出现形态异常。