超轻元素Be的电子探针定量测试问题及解决方案

针对电子探针微区定量分析轻元素及超轻元素的难点进行了总结,结合岛津电子探针EPMA的仪器特点,给出岛津EPMA在测试轻元素及超轻元素方面提供的解决方案和技术优势,并解释了设计的意义所在。以绿柱石和铍方钠石矿物为测试超轻元素Be的实际案例,给出了测试思路和分析方法,并强调了测试过程中的一些注意事项。

背散射电子成像在纳米多层膜形貌观察中的应用

本文以背散射成像技术在扫描电镜观察纳米多层膜形貌中的应用为背景,简要介绍了扫描电子显微镜背散射电子成像的工作原理,并从分析准确度、分辨率及取出角对背散射电子成像影响的3个角度研究了其在纳米多层膜表面形貌观察中的应用.结果表明:利用扫描电镜背散射电子成像技术可有效表征纳米多层膜样品微区成分变化,能够快速了解样品的组成和结构特征,其分析准确度、分辨率均在纳米量级.该方法可为纳米多层膜调制结构的表征及鉴别提供快速、简便、有效的分析手段.同时,对该技术的探讨将帮助物理学专业学生更好的理解背散射现象的物理机制,帮助材料专业的学生更好的应用该表征技术.