取向膜印刷精度的改善研究

为了实现TFT LCD产品的窄边框化,分析了不同因素的影响程度,加强了对取向膜印刷精度的管控。同时对涉及该过程相关因素进行研究分析。对取向膜印刷精度相关的APR版收缩率、APR版固定夹具、APR版边缘角度、APR版边缘开口率进行优化测试,找到了可以控制取向膜印刷精度的方法。实验结果表明:通过对APR版收缩率进行优化后,可以明显改善PI EM的过程能力(Ppk 0.66→1.31);通过对APR版的夹具固定方式和挂版方式进行改善,边缘波动可以明显改善(边缘与中间Panel EM波动范围在477→138μm);通过对APR版边缘300μm的角度变更(75°→45°),边缘波动改善明显(6343μm);通过对APR版边缘300μm的开口率优化(30%→35%),降低载液量,边缘波动得到进一步优化(43→22μm)。该方法可以满足取向膜印刷精度的稳定管控、适应窄边框等要求。