测量断口分维的一种变分辨率码尺方法

本文提出了测量断口分维的一种变分辨率码尺方法，并利用ＷｅｉｅｒｓｔｒａｓＭａｎｄｅｌｂｒｏｔ理论分形曲线对变分辨率码尺方法与传统的变码尺方法进行了对比。结果表明，变分辨率码尺方法优于传统的变码尺方法。用扫描隧道显微镜（ＳＴＭ）利用变分辨率码尺方法在纳米尺度测定了Ｔｉ３ＡｌＴｉ２４Ａｌ１１Ｎｂ合金断口的分形维数。发现断裂表面在纳米尺度上存在分形结构。

测量断口分维的变分辨率码尺方法

本文提出了测量断口分维的变分辨率码尺方法，并利用Weierstrass-Mandelbrot理论分形曲线对变分辨率码尺方法与传统的变码尺方法进行了对比。结果表明，变分辨率码尺方法优于传统的变码尺方法。用扫描隧道显微镜（STM）利用变分辨率码尺方法在纳米惊讶测定了Ti3Al,Ti-24Al-11Ng合金断口的分形维数。断裂表面在纳米尺度上存在分形结构，但不同断裂方向的分形维数不同。Ti-24Al-11Nb合金的分形维数高于Ｔi3Al合金的分形维数。