基于AI-VCR特性工业动态测试计量技术的实现

FCR(恒进制)是1500多年来在数论的离散进位计数换算规则制(DCR)中占主流和主导而统治使用地位的计数制,VCR(变进制)则是1995年在FCR基础上拓展起来的新型的计数制,VCR与FCR相比具有更好的可拓性与压缩性、模糊性与保密性、智能性与设密性、灵活性与变溢性(VCO,Variable Capacities of Overflowing)。FPGA(现场可编程门阵列)是20世纪一种新型可编程逻辑器件,它因具有大容量、小时延、易改进、便拓展等灵活性特点而广泛应用于工业现场智能的动态测试和控制技术等领域。本文基于VCR智能特性,提出了一种在RAM中实现的动态测试计量技术,其计量结果可获得更大数据挖掘与方便实用的拓展空间:如可长期得到无溢出、无扰动,有断点、有过程和可存储、可加密的历史信息记录等。