叠层片式ZnO压敏电阻的微观结构研究

通过光学显微镜、扫描电镜观察及能谱分析等方法，分析研究了叠层片式压敏电阻器（MLV,mutilayer varistor）的微观结构．实验结果表明，在半成品叠层片式压敏电阻器的微观结构中ZnO晶粒较小且不均匀，结构较疏松，强度差．而成品由于进行了低温液相烧结，其微观结构则为较规则的ZnO晶粒，晶粒变大尺寸较为均匀，致密度明显提高．由于在陶瓷叠片上内电极浆料分布不均匀或电极印刷的原因，经过烧结后个别地方可能出现内电极层的缺损，以至观察到的内电极是断续的。同时观察到空洞可影响到内电极扣外电极的连接，以及电极变形等现象。这些缺陷结构的形成与叠层片式压敏电阻器的制作工艺有关．

ZnO压敏陶瓷液相低温烧结技术的研究进展

阐述了ZnO压敏陶瓷烧结过程中的液相传质机构,重点论述了传统铋系ZnO压敏材料的液相低温烧结研究方向,以及钒系和玻璃系两种新型ZnO压敏材料的低温液相烧结及其存在的问题。