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提高叠栅条纹信号质量的一种新方法(英文) 被引量:1
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作者 吴新民 陈进榜 +2 位作者 高志山 王青 朱应时 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第2期231-234,共4页
在国内外普遍使用的细栅距幅光栅叠栅条纹系统中 ,衍射效应是很明显的 ,这是造成叠栅条纹信号的衬比 (度 )和正弦性不好的主要原因 .本文在分析了叠栅条纹信号的基础上 ,导出了衍射光栅副中± 1级叠栅条纹的相位与光栅副间隔 ,光线... 在国内外普遍使用的细栅距幅光栅叠栅条纹系统中 ,衍射效应是很明显的 ,这是造成叠栅条纹信号的衬比 (度 )和正弦性不好的主要原因 .本文在分析了叠栅条纹信号的基础上 ,导出了衍射光栅副中± 1级叠栅条纹的相位与光栅副间隔 ,光线入射角等的关系 ,提出了用±1级叠栅条纹来提高叠栅条纹的信号质量 ,实验结果与理论分析一致 ,实际应用 。 展开更多
关键词 叠梵条纹 光栅副 相位 信号质量 衍射效应 图像处理
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