用可变孔径法测试研究单模光纤的有效面积

光纤的有效面积是评价单模光纤性能指标的一个重要参数。但到目前为止 ,国内对这一参数的测试研究尚未见报道。本文介绍用可变孔径法测试出各种折射率剖面结构的单模光纤的远场和近场分布 ,以及这些光纤的有效面积。并在实验测试的基础上 ,验证了 ITU- T文件中有关光纤有效面积与模场直径间的关系。同时 ,对目前的各种新型的G.655光纤的有效面积进行了较深入的测试研究。

测量单模光纤模场半径的远场可变孔径方法

本文提出了一种光纤端面远场可变孔径测量模场半径的方法，此方法是利用遮光孔径的改变调节光电管接收到的光信号强度，用锁相放大器提高测量信号的信噪比，再利用计算机来处理数据，拟合曲线，最后得到所需的模场半径。

基于远场可变孔径的贝塞尔函数拟合法求单模光纤模场直径

模场直径作为单模光纤的一个重要参数,远场可变孔径法是GB.15972.45-2008中推荐的测量方法。本文分析了单模光纤中传播光场的分布,其中光场的模式行为是亥姆霍兹方程的解,理论上应满足贝塞尔函数。对此,本文基于远场可变孔径法提出一种利用贝塞尔函数拟合光纤出射光场分布,进而由拟合得到的模场分布曲线计算模场直径。与目前常用的远场可变孔径法相比,在测量数据正常时,本方法与常用方法测量精度相当。当测量数据存在误差时,本方法仍能保证测量结果的稳定性与准确性。

远场扫描和可变孔径定义模场直径与Petermann定义一致

ＩＵＴ－Ｔ在Ｇ．６５０建议中，模场直径定义是严格基于远场扫描测量给出的，然而实际上它与现今普遍采用的Ｐｅｔｅｒｍａｎｎ定义是完全一致的。本文从理论上推证运场扫描、可变孔径法定义的模场直径与Ｐｅｔｅｒｍａｎｎ定义的模场直径一致。

基于远场可变孔径的高斯函数拟合测量模场直径

模场直径作为单模光纤的一个关键参数,由基模的模场分布而决定。单模光纤基模的横向电场强度分布接近于高斯分布。通过远场可变孔径法能测量出一组多孔径远场辐射光功率数据。本文将此数据转化得到光纤的出射光场分布,并使用高斯函数对出射光场分布进行数值拟合校正,最后由拟合得到的高斯函数分布求得模场直径。实验表明,标准仪器在测量条件良好条件下测得模场直径为9.090μm,在测量条件变差时测得的模场直径为8.794μm,存在3.2%的相对误差,而使用高斯函数拟合方法测得的前后模场直径数据为9.089μm、9.061μm,仅存在0.3%的相对误差。对比多次数据后发现本文方法可以有效消除在实际测量过程中的偶然误差,如由于被测光纤模场中心与透光孔中心偏离引起的测量误差,提高了模场直径测量结果的稳定性和准确性。

单模光纤有效面积及其测试方法

有效面积 ( Aeff)是一个与光纤非线性密切相关的极其重要的参数 .随着通信距离的延长和 WDM通道的增加 ,人们对光纤 Aeff 的值越来越关心 ,如何准确方便地测量出 Aeff 值成了关注的问题 .文章介绍了 Aeff的概念、定义及其测试方法 。

光纤模场直径测量的两段多项式函数拟合法

光纤的模场直径对于评价光纤性能非常重要。远场可变孔径法是工业中测量模场直径的常用方法。目前基于远场可变孔径法的各类测量仪器使用较多的孔径,测量时间长,效率较低。针对这些问题,文中用OFM光纤测量仪测量得到光功率数据,并将两段多项式函数拟合法运用于模场直径数据的处理中。实验结果显示,该方法在20个孔径时的测量结果稳定性优于原直接拟合的结果,且在满足测量精度的前提下,能将原来的20个测量孔径光阑减少至10孔,提高了仪器的测量速度,可满足光纤生产厂家在现场质量控制中快速测试的需求。

多次函数拟合法计算光纤模场直径

光纤的模场直径是评价光纤性能的一个重要参数。测量单模光纤模场直径的常用方法是远场可变孔径法。通过测量给定单模光纤透过不同尺寸孔径光阑的多组远场辐射光功率数据并对实测数据进行处理,可得到被测光纤的模场直径。在实际测量过程中,为了消除被测光纤模场中心与孔径光阑中心偏离引起的测量误差,应用多次函数拟合法对远场可变孔径法测得的数据进行处理,以此自动识别并排除测量数据中的个别不合理的误差数据,从而有效提高模场直径的测量精度。

光纤参数测试

TN25 2001021136用可变孔径法测试研究单模光纤的有效面积=Measuringand studying the effective area of single-mode fibers by the variable-aperture technique[刊,中]/程淑玲,尹红兵(武汉邮电科学研究院.湖北,武汉(430074))//光通信研究.—2000,(1).-55-59光纤的有效面积是评价单模光纤性能的一个重要参数。但到目前为止,国内对这一参数的测试研究尚未见报道。