机载计算机的可测试性工程设计(DFT)

安装在飞机上的嵌入式计算机 ,称为机载计算机 ,它的可测试性设计是整个设计中的非常重要的方面。设计要求在每次飞行前 ,机载计算机都需要进行自测试 ,确定机载设备的完好性 ;在空中飞行中 ,需要对计算机进行实时测试 ,以确保计算机运行的正确性。当测试发现故障时 ,应立刻告警或进行应急处理。本文在介绍机载计算机的可测试性设计原理和测试分类的基础上 。

装备可用性建模与优化设计方法研究

针对目前行业内缺少关于装备可用性建模与优化设计方法方面的研究成果这一问题,提出一种装备可用性建模与优化设计方法。通过可靠性、测试性、维修性和保障性信息提取,获得装备可用性设计方案的关键设计指标;建立面向多任务的装备可用性模型,并基于该模型完成装备在不同任务工作模式下的优化分析;确定装备可用性设计方案优选的多个决策属性,建立基于多属性决策的装备可用性设计方案优选模型,并基于该模型优选出装备可用性设计方案;通过案例分析验证所提方法的合理性和有效性,为装备可用性优化设计工作提供依据。

基于MBSE的微波统一测控系统测试性设计

针对当前微波统一测控系统研制中存在的测试性要求宽松、测试性设计模式落后的问题,通过综合权衡可靠性、维修性和保障性的各项要求和约束条件,确定了微波统一测控系统的测试性定量要求,并对开展测试性定量设计和验证的可行性进行了论证;采用系统工程设计思想,将测试性设计和功能设计融合,构建了基于模型的系统工程(Model-based Systems Engineering,MBSE)的测试性设计环境和设计流程,可为微波统一测控系统在数字化研制过程中开展测试性设计和仿真验证提供参考。

SoC芯片扫描链测试设计与实现

阐述针对SoC芯片,进行压缩测试、stuck-at测试和全速测试的设计,并通过Tessent软件插入扫描链和生成ATPG自动测试向量。结果表明,芯片固定型故障、时延相关故障的覆盖率满足测试要求。

危险废物相容性测试方法的设计

危险废物相容性是评价其安全储存、处置的重要指标。本文简要介绍我国化学品相容性测试方法和危险废物领域的研究现状,根据美国材料与试验协会(ASTM)的相关标准,设计并验证危险废物相容性测试方法,包括水相容性测试、潜在聚合性测试、废物混合相容性测试三个规程,可供危险废物处置企业参考。

航空机载综合控制管理设备的测试性设计研究

分析了开展航空机载设备测试性设计的目的和意义,对设备的测试性设计流程、设计方法、试验验证和指标评估等方法进行了探讨。首先,具体描述了机载设备的BIT设计方法;其次,对典型功能电路采用的BIT方法和复杂电子器件采用的边界扫描测试性设计进行了介绍,肯定了测试性试验对装备测试性指标评估的作用;然后,对测试性设计中常见问题提出了解决措施;最后,指出装备应持续改进测试性设计以达成用户要求。

考虑噪声抗扰特性的配电系统可测试性设计研究

基于MOSFET的电力电子系统具备高可靠性的要求,故需要一种高精度的故障诊断方法。但实际产品中存在信号噪声严重、一致性差等不完善的情况,常规的故障诊断方法难以准确识别故障。为此,本文提出一种基于仿真的考虑抗噪性的批量产品测试性设计方法,首先通过FMEA确定元器件的软故障、硬故障模型,构建电路仿真模型;然后进行故障注入仿真,构造依赖矩阵,通过提取不同类型信号的抗噪特性,选择和优化测试点方案;最后以某供电所配电系统为例进行测试性设计方法研究,通过仿真和实验验证评估测试点的有效性。

可测试性设计(DFT)的发展状况

设计者一般常用各种不同的软硬件DFT技术。 硬件DFT 近来,设计者为IC的片内自检、印制电路板(PCB)和硬件系统开发了硬件DFT技术和测试标准。集成电路复杂程度的增加,ASIC技术的引入及多片模块的发展使DFT成为IC测试中必不可少的技术。当前的IC技术一般均结合了内置自检技术(BIST)。 PCB上复杂的IC数量和密度的增加以及表面封装技术的提高均要求发展新的PCB测试技术。传统的分层测试技术和电路的探针式测试技术已不实用了。

一种适用于Chiplet测试的通用测试访问端口控制器电路设计

在后摩尔时代里,Chiplet是当前最火热的异构芯片集成技术,具有复杂的多芯粒堆叠结构等特点。为了解决Chiplet在不同堆叠结构中的芯粒绑定后测试问题,基于IEEE 1838标准协议,该文提出一种适用于Chiplet测试的通用测试访问端口控制器(UTAPC)电路。该电路在传统测试访问端口(TAP)控制器的基础上设计了Chiplet专用有限状态机(CDFSM),增加了Chiplet测试路径配置寄存器和Chiplet测试接口电路。在CDFSM产生的配置寄存器控制信号作用下,通过Chiplet测试路径配置寄存器输出的配置信号来控制Chiplet测试接口电路以设置Chiplet的有效测试路径,实现跨层访问芯粒。仿真结果表明,所提UTAPC电路适用于任意堆叠结构的Chiplet的可测试性设计,可以有效地选择芯粒的测试,还节省了测试端口和测试时间资源并提升了测试效率。

航天器可测试性设计研究

在调研国内外可测试性技术发展历程的基础上,分析中国航天器可测试性设计技术与国外的差距,探讨其发展的前提条件和规划方法,提出适合中国航天器的可测试性设计的技术实现途径.

SOC可测试性设计与测试技术

超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩／解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向.

基于结构模型的测试性设计与分析技术研究

为了解决因系统信息获取困难导致装备早期测试性设计和维修诊断工作难度增加的问题,提出了一种基于系统结构模型的测试性设计与分析方法。该方法借助图论的数学工具对系统进行数学建模,通过定量分析完成系统的模块划分;在此基础上,建立测试相关性矩阵,以最小测试代价为优化目标函数,应用Huffman信息编码方法生成系统的故障诊断树。与其他方法相比,该方法不仅结果更加优化,而且对系统的内部信息依赖相对较少,可以有效应用于设备的早期测试性设计以及使用过程中的维修诊断工作。

装备测试性设计与维修诊断一体化关键技术研究

针对目前复杂电子装备设计制造与维修保障中存在的信息脱钩问题,提出了装备测试性设计与维修诊断一体化思想;该研究着眼于装备全寿命周期内信息的共享,提出装备信息模型,通过构建装备全寿命周期可通用的数据知识库,应用人工智能的算法,使装备寿命周期内的各项工作相互支援、相互影响,形成一个闭环的信息网络,最终实现设计制造与维修的一体化;作为一种并行工程的设计方法,该思想适应了装备信息化发展的要求,对提高装备测试与维修保障能力具有重要意义。

基于合约的构件易测试性设计支撑工具的设计与实现

构件技术的新特点为构件测试带来挑战。合约式设计是一种重要的软件易测试性设计方法。基于合约的构件易测试性设计为构件测试提供了一种有效的手段。设计并实现了一种新的合约式设计工具(PKUJDBCT),为构件的易测试性设计提供有力的支撑,并为今后进一步研究基于合约的构件易测试性设计方法打下了良好的基础。

电子装备固有测试性分析系统设计

传统电子装备的固有测试性分析需要大量的试验和统计,费时费力。利用电路仿真故障注入的办法,可以使大量的试验在计算机上模拟进行,能方便快捷地给出结论。文中验证了该方法的可行性,并以其为基础,探讨了某电子装备固有测试性分析系统的设计。

装备测试性设计关键技术研究

从CAD的发展入手,对电子装备测试性设计技术进行分析和总结。依照“并行工程”的思想,给出了装备测试性智能设计系统的层次结构和模型,阐述了测试性设计与装备其他设计属性的关系,最后从知识的表示方法、知识的获取途径和知识的应用三个方面对实现测试性智能设计的关键技术进行了研究。

SoC的可测试性设计技术

基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点 ,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案 :IEEEP15 0 0和虚拟插座接口联盟 (VSIA)测试访问结构 .

可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用

可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(ScanDesign)、存储器内建自测试(Build-in-self-test,简称BIST)以及与IEEE1149.1标准兼容的边界扫描设计(BoundaryScanDesign,简称BSD)等技术。这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。

基于混合诊断模型的复杂系统测试性设计与分析

测试性设计的关键是要寻求一种良好的测试性模型。混合诊断模型是一种将功能模型和故障模式模型建立在一个系统模型中测试性设计与分析模型,它通过对测试的定义,有效地描述了测试、故障模式和功能三者之间的关系。并且,该模型已经在DSI公司的eXpress软件中得到实现。最后,应用放大器实例,在eX-press软件中进行混合诊断建模,通过诊断学习,得到诊断策略和测试性设计的指标,验证了模型的有效性。事实证明,混合诊断模型是一种有效的测试性模型。

装备测试性设计辅助决策系统关键技术研究

针对测试性设计的辅助决策工具是装备测试性设计水平提高的关键技术。围绕测试性设计辅助决策系统实现,从装备测试性设计建模、装备测试性设计与分析优化算法、辅助决策系统实现等三个方面展开研究,在分析现有模型的基础上提出了用于测试性设计的信息模型建模思想,并对测试性设计过程中的诊断优化算法进行了研究,最后完成对测试性模型、诊断策略的集成,对系统平台实现的关键技术进行了研究。本研究是实现装备测试性设计辅助决策系统的关键。