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可测试设计和数字电路教学 |
沈嗣昌
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《电气电子教学学报》
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1994 |
0 |
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2
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基于遗传算法的分割可测试设计 |
李宇飞
余宙
付宇卓
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《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2007 |
0 |
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3
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系统芯片I_(DDQ)可测试设计规则和方法 |
冯建华
孙义和
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《测试技术学报》
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2002 |
4
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4
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基于抗随机性故障分析的高效率可测试设计方法 |
白宇峰
吕寅鹏
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《电子技术应用》
北大核心
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2017 |
2
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5
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基于嵌入式内核SOC I_(DDQ)可测试设计方法 |
冯建华
孙义和
李树国
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《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
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2003 |
0 |
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6
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KDST Syndrome可测试设计软件包 |
王芳雷
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《上海科技大学学报》
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1990 |
0 |
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7
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可测试设计法提高集成电路成品率 |
绍文
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《电子测试》
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2000 |
0 |
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8
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可测试设计法推动嵌入测试进入新阶段 |
王新
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《电子测试》
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2000 |
0 |
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9
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SoC芯片扫描链测试设计与实现 |
卢叶青
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《集成电路应用》
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2024 |
0 |
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10
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一种适用于Chiplet测试的通用测试访问端口控制器电路设计 |
蔡志匡
周国鹏
宋健
王子轩
郭宇锋
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《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
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2023 |
1
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11
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逻辑内建自测试技术进展综述 |
金敏
向东
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《集成技术》
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2024 |
0 |
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12
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浅析风电机组可测试性设计准则应用 |
左栋
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《中文科技期刊数据库(全文版)工程技术》
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2023 |
0 |
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13
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SOC可测试性设计与测试技术 |
胡瑜
韩银和
李晓维
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《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
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2005 |
42
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14
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可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 |
李华伟
李晓维
尹志刚
吕涛
何蓉晖
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《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
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2002 |
5
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15
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SoC的可测试性设计技术 |
王永生
肖立伊
毛志刚
叶以正
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《同济大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
|
2002 |
4
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16
|
一款雷达信号处理SOC芯片的存储器内建自测试设计 |
饶全林
何春
饶青
刘辉华
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
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2008 |
5
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17
|
可测试性设计中的优化问题及求解算法 |
胡 政
温熙森
钱彦岭
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《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
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2000 |
4
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18
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“存储+逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计 |
叶靖
郭瑞峰
胡瑜
郑武东
黄宇
赖李洋
李晓维
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
|
2014 |
6
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19
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一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构 |
尹志刚
李华伟
李晓维
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《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
|
2003 |
7
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20
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NRS4000微处理器的可测试性设计 |
张盛兵
高德远
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《西北工业大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1999 |
4
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