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基于SRAM编程技术的PLD核心可重构电路结构设计
1
作者
曹伟
高志强
+1 位作者
来逢昌
毛志刚
《电子器件》
CAS
2004年第2期283-286,273,共5页
CPLD相对于FPGA更适合实现时序逻辑较少而组合逻辑相对复杂的功能 ,比如复杂的状态机和译码电路等。CPLD的EEPROM编程技术不适合动态可重构的应用。本文针对CPLD的核心可编程结构 :P Term和可编程互连线 ,采用 2 5V、0 2 5 μmCMOS工...
CPLD相对于FPGA更适合实现时序逻辑较少而组合逻辑相对复杂的功能 ,比如复杂的状态机和译码电路等。CPLD的EEPROM编程技术不适合动态可重构的应用。本文针对CPLD的核心可编程结构 :P Term和可编程互连线 ,采用 2 5V、0 2 5 μmCMOS工艺设计了功能相近的基于SRAM编程技术的可重构电路结构。新的电路结构可以通过可编程方式有效控制功耗和速度的折衷 ,并且相对于传统的CPLD互联结构减少了 5 0 %的编程数据。在动态可重构系统中 ,采用上述新结构的PLD相对于FPGA可以更有效地实现可重构的复杂状态机和译码电路等应用。
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关键词
CPLD
FPGA
P-Term
可编程互连线
可重构技术
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职称材料
一种新型纳米器件逻辑纠错专用集成电路架构
被引量:
1
2
作者
窦怀阳
薛晓勇
冯洁
《半导体技术》
CAS
北大核心
2020年第2期116-121,共6页
新型纳米器件被视为摩尔定律极限临近情况下CMOS技术的有力补充。为克服新型纳米器件缺陷率高的问题,提出了一种基于现场可编程纳米线互连(FPNI)架构的具有自修正能力的纠错(FT)专用集成电路(ASIC)架构FT-FPNI,这种架构适用于易出错的...
新型纳米器件被视为摩尔定律极限临近情况下CMOS技术的有力补充。为克服新型纳米器件缺陷率高的问题,提出了一种基于现场可编程纳米线互连(FPNI)架构的具有自修正能力的纠错(FT)专用集成电路(ASIC)架构FT-FPNI,这种架构适用于易出错的纳米器件逻辑门电路。使用基于硬件描述语言的缺陷注入技术来仿真架构,仿真结果表明,这种架构可以100%检测缺陷和错误。为取得最小的纠错代价,需要保持尽可能小的单元阵列尺寸。Hspice软件仿真结果表明,碳纳米管或非(NOR)门输出延迟为2.89 ps,平均功耗为6.748 pW,与现有CMOS技术相比功耗降低2个数量级。
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关键词
内嵌自修复(BISR)
现场
可编程
纳米
线
互连
(FPNI)
纳米器件逻辑
碳纳米管场效应管(CNTFET)
电路纠错
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职称材料
题名
基于SRAM编程技术的PLD核心可重构电路结构设计
1
作者
曹伟
高志强
来逢昌
毛志刚
机构
哈尔滨工业大学电子科学与技术系微电子中心
出处
《电子器件》
CAS
2004年第2期283-286,273,共5页
文摘
CPLD相对于FPGA更适合实现时序逻辑较少而组合逻辑相对复杂的功能 ,比如复杂的状态机和译码电路等。CPLD的EEPROM编程技术不适合动态可重构的应用。本文针对CPLD的核心可编程结构 :P Term和可编程互连线 ,采用 2 5V、0 2 5 μmCMOS工艺设计了功能相近的基于SRAM编程技术的可重构电路结构。新的电路结构可以通过可编程方式有效控制功耗和速度的折衷 ,并且相对于传统的CPLD互联结构减少了 5 0 %的编程数据。在动态可重构系统中 ,采用上述新结构的PLD相对于FPGA可以更有效地实现可重构的复杂状态机和译码电路等应用。
关键词
CPLD
FPGA
P-Term
可编程互连线
可重构技术
Keywords
CPLD(Complex Programmable Logic Device)
FPGA
P-Term
programmable interconnection
reconfigurable technology
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
一种新型纳米器件逻辑纠错专用集成电路架构
被引量:
1
2
作者
窦怀阳
薛晓勇
冯洁
机构
上海交通大学薄膜与微细技术教育部重点实验室
复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2020年第2期116-121,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(61704029,61874028,61834009).
文摘
新型纳米器件被视为摩尔定律极限临近情况下CMOS技术的有力补充。为克服新型纳米器件缺陷率高的问题,提出了一种基于现场可编程纳米线互连(FPNI)架构的具有自修正能力的纠错(FT)专用集成电路(ASIC)架构FT-FPNI,这种架构适用于易出错的纳米器件逻辑门电路。使用基于硬件描述语言的缺陷注入技术来仿真架构,仿真结果表明,这种架构可以100%检测缺陷和错误。为取得最小的纠错代价,需要保持尽可能小的单元阵列尺寸。Hspice软件仿真结果表明,碳纳米管或非(NOR)门输出延迟为2.89 ps,平均功耗为6.748 pW,与现有CMOS技术相比功耗降低2个数量级。
关键词
内嵌自修复(BISR)
现场
可编程
纳米
线
互连
(FPNI)
纳米器件逻辑
碳纳米管场效应管(CNTFET)
电路纠错
Keywords
built-in self-repair(BISR)
field-programmable nanowire interconnect(FPNI)
nanodevice logic
carbon nanotube field effect transistor(CNTFET)
circuit fault-tolerant
分类号
TB383.1 [一般工业技术—材料科学与工程]
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于SRAM编程技术的PLD核心可重构电路结构设计
曹伟
高志强
来逢昌
毛志刚
《电子器件》
CAS
2004
0
下载PDF
职称材料
2
一种新型纳米器件逻辑纠错专用集成电路架构
窦怀阳
薛晓勇
冯洁
《半导体技术》
CAS
北大核心
2020
1
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职称材料
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