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Aptix System ExplorerTM使用方法初探
1
作者
金迪
张斌
邵东瑞
《微处理机》
2004年第5期47-48,共2页
本文描述了AptixSystemExplorerTM硬件仿真系统两种工作方式 (MVP&Incir cuit)的基本原理及流程 ,分析了该系统的特点 ,并给出了如何利用其中的InCircuit模式实现对In tel 82 74芯片的测试 。
关键词
片上系统(SOC)
可编程
互连器件(FPIC)
可编程
印
制版
(
fpcb
)
MVP
Incircuit
下载PDF
职称材料
题名
Aptix System ExplorerTM使用方法初探
1
作者
金迪
张斌
邵东瑞
机构
辽宁省医疗器械产品质量监督检验所
东北微电子研究所
出处
《微处理机》
2004年第5期47-48,共2页
文摘
本文描述了AptixSystemExplorerTM硬件仿真系统两种工作方式 (MVP&Incir cuit)的基本原理及流程 ,分析了该系统的特点 ,并给出了如何利用其中的InCircuit模式实现对In tel 82 74芯片的测试 。
关键词
片上系统(SOC)
可编程
互连器件(FPIC)
可编程
印
制版
(
fpcb
)
MVP
Incircuit
Keywords
SOC (system on chip)
FPIC (Field Programmable Circuit Board)
fpcb
(Field Programmable Interconnect Component)
MVP(Module Verification Platform)
Incircuit(In Circuit)
分类号
TP319 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
Aptix System ExplorerTM使用方法初探
金迪
张斌
邵东瑞
《微处理机》
2004
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