非中心t分布函数在可靠性下限计算中的应用

非中心t分布函数及其分位数的计算 ,在正态分布的单侧容许限计算、变差系数的置信上限计算、正态分布产品的可靠性下限计算中起着重要作用。本文采用高斯积分方法 ,提出了非中心t分布函数及其分位数计算的一种方法 ,该方法具有运算速度快、精度高的特点 ,可用于正态分布的单侧容许限分析、变差系数的置信上限分析、产品的可靠性下限分析以及与非中心t分布函数相关的统计分析 。

产品可靠性下限神经网络计算方法

在军用产品可靠评估算法问题的研究中,针对正态分布产品定限内可靠性下限评估的繁琐计算精度差的问题,为保证可靠性和精度,提出了一种基于神经网络的可靠性评估计算方法。方法通过构造具有三输入单输出的三层神经网络结构,利用神经网络的泛化功能来估计和求解,计算了正态分布产品可靠性下限的积分方程,从而避免了传统方法中的查表法和插值计算的繁琐过程,有效地解决了计算法所带来的缺点。通过神经网络计算和仿真可以方便求解。仿真结果表明,提高了系统的可靠性和精度,满足工程应用的要求。

贮存-使用模型可靠性置信下限的估计

本文讨论了贮存寿命和使用寿命均为指数分布时,贮存-使用模型的可靠性置信限的估计问题。文章首先给出了一个"等效时间"公式,将贮存时间转化为等效的使用时间,然后利用定总试验时间的可靠性置信下限求法对其置信下限进行计算。最后举例说明贮存-使用可靠性置信下限的求法。

威布尔分布的参数估计和可靠性置信下限近似解

该文对威布尔分布的完全样本数据用极大似然法和配矩法估计其形状参数和特征寿命。当样本量较大时,估计得形状参数和特征寿命可近似看成已知量,进而给出威布尔分布的可靠性置信下限近似解。该文可用于指导航天器非电子设备或活动部件的试验设计。

指数分布区间型删失数据的可靠度最优置信下限

由于测量仪器的精度,测量方法等原因,往往不能得到产品精确的失效时间,得到的是区间型删失数据.本文讨论了指数分布区间型删失数据下的可靠度最优置信下限的估计问题.首先采用极大似然估计方法对指数分布区间型失效数据的失效率进行了估计,然后对每个区间型失效数据采用期望值对其失效时间进行估计,通过估计出的失效时间估计出了可靠度的最优置信下限,并给出了计算机模拟结果.

可靠性评估中不同数据转换公式优良性比较

在复杂系统的可靠性评估中,将不同分布的寿命数据转换为成败型数据,然后利用成败型数据对整个电子产品进行可靠性评估是一种重要的处理方法.本文给出了数据等效性的相关概念和准则,并在建立的准则下对文献中提及的三个等效数据转换公式的优良性在指数分布定数截尾试验数据情形进行了比较.从比较的结果看,文中所提及的转换公式B在所给出的等效性准则下优于其他两个转换公式A和C。

可靠性评估中不同数据转换公式优良性比较

在复杂系统的可靠性评估中,将不同分布的寿命数据转换为成败型数据,然后利用成败型数据对整个电子产品进行可靠性评估是一种重要的处理方法.本文给出了数据等效性的相关概念和准则,并在建立的准则下对文献中提及的三个等效数据转换公式的优良性在指数分布定数截尾试验数据情形进行了比较.从比较的结果看,文中所提及的转换公式B在所给出的等效性准则下优于其他两个转换公式A和C。

成功数不确定但已知权分布成败型元件可靠性点估计及置信限

设成败型元件可靠性为Ｐ，Ｐ未知，今对此元件进行ｎ次独立试验，确切的成功数并不知道，但只知成功数在ｓ，ｓ＋１，…，ｓ＋ｍ之间，且设对成功数为ｓ，ｓ＋１，…，ｓ＋ｍ的相信程度分别为β０，β１，…，βｍ（βｉ≥０，Σβ１＝１），本文研究基于数组（ｎ，ｓ，ｍ，β０，β１，…，βｍ）求此元件可靠性后的点估计及置信限的问题。