期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
VLSI金属互连电迁移可靠性评估技术研究
1
作者
薛丽君
杜磊
+3 位作者
庄奕琪
鲍立
李伟华
马中发
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期412-415,共4页
在简要介绍电迁移失效机理的基础上,对各种电迁移可靠性实验评估方法的特点进行了分析对比,重点研究了VLSI金属互连电迁移可靠性的噪声评估技术。通过实验数据和结果的对比分析,证明噪声方法不仅可行,而且有着其他传统方法不可比拟的...
在简要介绍电迁移失效机理的基础上,对各种电迁移可靠性实验评估方法的特点进行了分析对比,重点研究了VLSI金属互连电迁移可靠性的噪声评估技术。通过实验数据和结果的对比分析,证明噪声方法不仅可行,而且有着其他传统方法不可比拟的优越性,具有极好的应用前景。
展开更多
关键词
VLSI
金属互连
电迁移
可靠性评佶
噪声测试
下载PDF
职称材料
题名
VLSI金属互连电迁移可靠性评估技术研究
1
作者
薛丽君
杜磊
庄奕琪
鲍立
李伟华
马中发
机构
西安电子科技大学技术物理学院
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第6期412-415,共4页
文摘
在简要介绍电迁移失效机理的基础上,对各种电迁移可靠性实验评估方法的特点进行了分析对比,重点研究了VLSI金属互连电迁移可靠性的噪声评估技术。通过实验数据和结果的对比分析,证明噪声方法不仅可行,而且有着其他传统方法不可比拟的优越性,具有极好的应用前景。
关键词
VLSI
金属互连
电迁移
可靠性评佶
噪声测试
Keywords
VLSI
Metal interconnection
Electromigration
Reliability assessment
Noise measurement
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN405.97 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
VLSI金属互连电迁移可靠性评估技术研究
薛丽君
杜磊
庄奕琪
鲍立
李伟华
马中发
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2002
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部