X射线荧光光谱法测定镍基高温合金中合金组分的通用工作曲线的制作——基本参数(FP)法虚拟合成标准样品的应用

应用基本参数(FP)法虚拟合成标样制作了X射线荧光光谱法(XRFS)测定不同类型的镍基高温合金中18种合金元素和4种杂质元素的通用工作曲线。选择了最佳的仪器工作条件和合理的待测元素的分析线系,测定了9种元素受共存元素分析线重叠干扰的校正系数,用瑞利散射线扣除背景及通道材料的影响。在设定虚拟合成标样中各元素的含量,并算得在此设定值下的荧光强度后,用FP法计算各元素在其定值下的最终强度,从而完成了FP法工作曲线。应用此虚拟合成单标工作曲线对多种标准样品进行测定,证明该工作曲线可通用于各种类型的镍基高温合金的分析。

X射线荧光光谱法测定铁基合金中合金组分的通用工作曲线的制作——基本参数(FP)法虚拟合成标准样品的应用

应用基本参数(FP)法虚拟合成标准样品制作了X射线荧光光谱法测定不同类型的铁基合金中的26种元素的通用工作曲线。选择最佳的仪器工作条件和合理的待测元素的分析线系,测定了9种元素、受共存元素重叠干扰的校正系数,用瑞利散射线扣除背景及通道材料的影响。在设定虚拟合成标准样品中各元素的含量,并算得在此设定值下的理论荧光强度后,用FP法计算各元素在其定值下的最终强度,从而完成了FP法工作曲线。应用此虚拟合成单标工作曲线对多种标准样品进行测定,证明该工作曲线可用于各种类型的铁基合金的分析。

X射线荧光光谱法测定还原钛铁矿中11种组分

将X射线荧光光谱法(XRF)应用于还原钛铁矿中TiO2、TFe、P2O5、SiO2、Al2O3、MnO、CaO、MgO、ZrO2、Nb2O5、V2O5的同时快速测定。以光谱纯试剂人工合成标样,解决了还原钛铁矿没有标准样品的问题。试样经过850℃氧化处理20 min后,以四硼酸锂(Li2B4O7)作熔剂,碘化铵(NH4I)作脱模剂,样品和熔剂的质量比为1∶15,于1 150℃的高频熔炉中熔融16min,所得熔片均匀、强度高、成型良好。本法用于还原钛铁矿中各组分的测定,结果同理论值相吻合,相对标准偏差(n=10)均小于2.5%,能够满足还原钛铁矿各组分的测定要求,特别能大大提高磷测定的准确性。

高频红外碳硫仪测定碳化硅中的SiC

对试样进行灼烧预处理,除去挥发分和游离C。用纯SiC和纯SiO2合成标准样品校正仪器,用锡粒、纯铁、钨粒作为助熔剂,高频燃烧红外吸收法测定碳化硅中的SiC。该法简便,准确可靠,实际样品分析结果满意。

高频感应-红外吸收法测定碳化硅中的SiC含量

文章采用碳化硅和基准碳酸钙混合配制成不同含量的标准样品,对高频红外碳硫分析仪进行多点校正,通过测定碳化硅中的碳含量,换算得到碳化硅含量。该方法简便、快速,可适用于测定50%～90%范围的碳化硅含量。

电阻炉-红外吸收法测定沥青焦碳线中全碳含量

建立了电阻炉-红外吸收测定沥青焦碳包芯线中碳的分析方法,采用合成标样校正,解决了冶金新兴原材料碳线分析中无方法、无标准样品的问题,实际应用比对获得满意结果.方法准确、快速,可与经典重量法媲美.并提出在高碳材料分析中,不可混淆固定碳和全碳,盲目用固定碳分析代替全碳分析.

电阻炉-红外吸收法测定沥青焦碳线中全碳含量

本文实验建立了电阻炉-红外吸收测定沥青焦碳包芯线中碳的分析方法,通过实验验证采用合成标样校正,解决了冶金新兴原材料碳线分析中无方法、无标准样品的问题,实际应用比对获得满意结果。并且方法准确、快速,可于经典重量法比美。并通过实验提出在高碳材料分析中,不可混淆固定碳和全碳,盲目用固定碳分析代替全碳分析。

激光共聚焦扫描显微镜测定烃类包裹体气液比的误差校正研究

通过烃类包裹体PVT模拟可以重建捕获温度和捕获压力,气液比是影响PVT模拟结果的重要参数,然而由于缺少烃类包裹体标准样品,一直未能深入研究激光共聚焦显微镜气液比测定精度的问题。本文利用人工合成包裹体技术合成了一种用于校正激光共聚焦扫描显微镜(LSCM)测定气液比的烃类包裹体标准样品,根据已知的合成烃类包裹体的油气组成、捕获温度和捕获压力计算出烃类包裹体的理论气液比,并利用LSCM测定烃类包裹体的实际气液比,通过计算实际测试值与理论值的差值以分析实际测定气液比的误差,实现对激光共聚焦扫描显微镜的误差标定。实验结果证实,高分辨率的LSCM测定烃类包裹体气液比的绝对误差小于0.5%,可以为包裹体PVT模拟提供精确参数。本研究肯定了LSCM测定烃类包裹体气液比方法的准确性,进一步证实了烃类包裹体的PVT模拟结果可以为油气成藏研究提供可靠数据。