合金内氧化法在制备银氧化铜(AgCuO)电触头材料中的应用

介绍了合金内氧化法的发展及其特点 。

银合金内氧化动力学分析

本文从银合金内氧化过程中氧－银合金扩散模型出发，导出氧化厚度（x）与氧化时间（t）呈指数关系：■；得到其两种近似表达式：（1）直线型：■；（2）抛物线型：■。计算误差（在所考虑的温度T＝973K）均＜5％。本文认为影响银合金内氧化速度的主要因素为合金原子对氧原子扩散所具有的平均能垒（E）。分析了各种银合金的能垒（E）组成，并作了相关计算（T＝973K，P＝5atm）。利用直线型公式较好地解释了AgCd和AgSn合金在相同的工艺条件下（P，T）不同的氧化速度。由此，提出了加快银合金内氧化速度的途径。

粉末预氧化法AgSnO_2In_2O_3电接触材料的制备及性能研究

采用水雾化法制备含Ni、Cu、Bi、Te等多元素掺杂的Ag Sn In合金粉末,将合金粉末在一定条件下内氧化,经过破碎、过筛得到多氧化物掺杂Ag Sn O2In2O3粉末。粉末经冷等静压、烧结、挤压、拉拔、打制等工艺后制成铆钉型触头,与合金内氧化法(AOM)制备的同等Ag、Sn、In含量的材料进行力学物理性能和电性能比较。结果表明:多元素掺杂粉末内氧化法(POM)制备的Ag Sn O2In2O3电接触材料的硬度、抗拉强度、抗电弧侵蚀和抗材料转移性能明显优于AOM制备的Ag Sn O2In2O3电接触材料。

航天继电器用AgCuONiO电接触材料的电寿命服役性能研究

目的 探究一种可替代AgCdO的高性能且环境友好的新型电接触材料,以提升航天继电器的可靠性。方法 在一定条件下以合金内氧化法制备AgCuONiO电接触材料,并与商用AgCdO电接触材料进行对比,利用电寿命模拟试验分析2款材料的电寿命循环服役性能,分析其失效机理。结果 AgCuONiO材料的总质量损失为0.000 88 g,平均燃弧时间、燃弧能量、熔焊力、回跳次数、回跳时间、回跳能量分别为4 222μs、694 mJ、0.049 N、1.799次、592.999μs、63.892 mJ,均大于商用AgCdO电接触材料,但其接触电阻低,且稳定,失效模式为无法分断电弧,而商用AgCdO电接触材料为粘连失效。AgCuONiO电接触材料的电寿命服役周期为44073次,是AgCdO电接触材料的3倍左右,因此可以显著提高航天继电器的可靠性。结论AgCuONiO电接触材料的一些电寿命服役性能虽然不如商用AgCdO电接触材料,但其电寿命服役周期明显强于商用Ag Cd O电接触材料,可作为替代AgCdO的较佳候选材料之一,应用于服役寿命要求更长的航天继电器。