O472.1 97053431ZnS(111)表面电子结构研究=Study of the electronicstructure of ZnS(111)[刊,中]/班大雁,张海峰,李永平,方容川(中国科技大学物理系.安徽.合肥(230026))//物理学报.—1996,45(9).—1526—1535利用Muffin—Tin轨道线性...O472.1 97053431ZnS(111)表面电子结构研究=Study of the electronicstructure of ZnS(111)[刊,中]/班大雁,张海峰,李永平,方容川(中国科技大学物理系.安徽.合肥(230026))//物理学报.—1996,45(9).—1526—1535利用Muffin—Tin轨道线性组合(LMTO)法,采用slab模型计算了半导体ZnS(111)表面的电子结构,给出了总体、局域及分波态密度,分析了两种slab模型的表面稳定性和表面态。理论态密度曲线与ZnS(111)表面同步辐射光电子能谱相符合。图9参22(严寒)展开更多
材料质量好坏对于获得高性能红外探测器至关重要。提出决定材料质量的关键点在于精准控制材料结构中层与层之间的晶格失配度,报道了晶格失配对材料质量和器件暗电流性能的影响。实验结论表明在液相外延技术生长的InAs/InAsSbP材料体系中...材料质量好坏对于获得高性能红外探测器至关重要。提出决定材料质量的关键点在于精准控制材料结构中层与层之间的晶格失配度,报道了晶格失配对材料质量和器件暗电流性能的影响。实验结论表明在液相外延技术生长的InAs/InAsSbP材料体系中,InAs和InAsSbP间的晶格失配不是越小越好,而是有一个最佳值。如果晶格失配偏离这个值,不管是偏大还是偏小,材料的质量都会恶化。阐述了如何调整生长参数以获得合适的晶格失配度。制备了具有适宜晶格失配度的红外探测器件,该探测器零偏压下的室温峰值探测率为6.8×10^(9) cm Hz^(1/2)W^(-1),与国际商用InAs探测器的指标相当。展开更多
文摘O472.1 97053431ZnS(111)表面电子结构研究=Study of the electronicstructure of ZnS(111)[刊,中]/班大雁,张海峰,李永平,方容川(中国科技大学物理系.安徽.合肥(230026))//物理学报.—1996,45(9).—1526—1535利用Muffin—Tin轨道线性组合(LMTO)法,采用slab模型计算了半导体ZnS(111)表面的电子结构,给出了总体、局域及分波态密度,分析了两种slab模型的表面稳定性和表面态。理论态密度曲线与ZnS(111)表面同步辐射光电子能谱相符合。图9参22(严寒)
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文摘材料质量好坏对于获得高性能红外探测器至关重要。提出决定材料质量的关键点在于精准控制材料结构中层与层之间的晶格失配度,报道了晶格失配对材料质量和器件暗电流性能的影响。实验结论表明在液相外延技术生长的InAs/InAsSbP材料体系中,InAs和InAsSbP间的晶格失配不是越小越好,而是有一个最佳值。如果晶格失配偏离这个值,不管是偏大还是偏小,材料的质量都会恶化。阐述了如何调整生长参数以获得合适的晶格失配度。制备了具有适宜晶格失配度的红外探测器件,该探测器零偏压下的室温峰值探测率为6.8×10^(9) cm Hz^(1/2)W^(-1),与国际商用InAs探测器的指标相当。