多台同型产品同步纠正可靠性增长试验数据统计分析方法研究

多台同型产品同步纠正可靠性增长试验所得到的数据是单失效数据,依据美军标/国军标和AMSAA-BISE模型得到的分析结果,该数据往往高于产品实际可靠性水平。针对这种情况,提出一种数据统计分析的新方法,即先采取多层Bayes估计法和加权最小二乘估计法,求得各个失效发生时间的期望值,替代单台AMSAA模型中的失效时间,再实现对产品可靠性增长试验数据的统计分析。通过对以上方法进行蒙特卡罗模拟,对比分析结果表明,利用新方法所得结果更接近产品的实际可靠性水平。