在大量同质异位素干扰下的同位素稀释质谱法测定^(173)Lu和^(174)Lu

当2种以上元素在热表面电离质谱计(TIMS)蒸发带表面蒸发时,蒸气中各元素的比例随着蒸发带加热电流的变化而变化,相应质量数处离子流的比值也随之发生变化。据此原理,建立了大量同质异位素干扰下的同位素分析方法。该方法的可靠性在同质异位素干扰量为1 000倍的情况下得到了实验验证。结合该方法和热表面电离同位素稀释质谱法(ID-TIMS)分析了大量173Yb和174Yb干扰下放射性核素173Lu和174Lu在溶液中的浓度,173Lu和174Lu合成标准不确定度分别为0.45%和1.1%。

多接收电感耦合等离子体质谱Cu同位素测定中的干扰评估

多接收电感耦合等离子体质谱（MC—ICP—MS）是高精度测定铜同位素的新方法，然而在测定中也可能存在干扰。为此对MC—ICPMS Cu同位素测定中的可能干扰进行了评估。主要包括以下方面的内容：（1）对所用标准物质和试剂进行了纯化，所用标准物质和试剂对Cu同位素的同质异位素干扰可以忽略；（2）运用K和／参数进行了讨论，其中K为样品中的Cu浓度与标准溶液中Cu浓度的比值,f为在一定Cu浓度的标准溶液中干扰信号相对于^63Cu真实信号的比值。理论模拟表明，当K值小于1时，即使在质量为63处的干扰很小，对ε^65 Cu的影响也可能很大；（3）通过对理论模拟结果与实际测定结果的对比，发现对所用的试剂而言质量数为65的干扰可以忽略不计；（4）实际测定结果表明，当样品中Cu的浓度是标样中Cu的浓度的0．5～4倍时，测试获得的样品的ε^65值与其真值在误差范围内一致；（5）对潜在的基质效应重点研究了Fe和Co对Cu同位素测定的影响。实验结果表明，当Fe／Cu〈100，Co／Cu〈7时，Fe，Co不影响Cu同位素比值的测定；（6）10个月的重现性研究结果为ε^65=3．5±1．0（2SD）。该测定值在误差范围内与文献报道的值一致。

硼同位素的负热电离质谱测定及其进展

负热电离质谱法测定硼同位素组成,由于具有比正热法高的灵敏度和简单的样品制备过程,越来越受到人们的重视,特别是在低硼含量样品的硼同位素测定中发挥了重要作用。但需要注意的是该方法精度较低且易受CNO-的同质异位素的干扰。作者对采用负热电离法测定硼同位素组成的原理、发射剂的选用、同质异位素的干扰以及在硼同位素地球化学研究中的应用等问题进行了总结。