吸枪检漏法的原理研究

航天器的单点漏率测试通常采用氦质谱吸枪检漏法,因此,该方法的合理性研究具有重要的工程意义。文章首次建立了吸枪检漏法的数学模型,并通过理论分析得到了被检件的漏率与检漏仪显示值的定量关系。其次,通过大量试验间接证明了该模型的正确性。最后,证明了氦质谱吸枪比对法的理论合理性。结果表明:用吸枪检漏法测单点的漏率具有较好的合理性,所得结论可以为吸枪法检漏的具体实施提供重要的理论依据。

氦质谱吸枪积累检漏法在压力容器中的应用

氦质谱吸枪积累检漏法广泛应用于压力容器行业,但被检容器漏点的泄漏率数值测试没有精准的理论计算公式或读取测试方法。通过对冷凝器吸枪积累检漏法实验数据的分析,充分考虑实验压力、氦气浓度、收集室的容积以及保压时间等因素,提出了一种简单直接读取测试漏点泄漏率的方法。