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以延长周期的方法实现SOC芯片内置PLL的critical path的查找
1
作者
徐勇
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第5期59-61,共3页
介绍了常见的SOC测试系统上使用周期延长法针对SOC内置锁相环进行测试的方法。
关键词
SOC
测试系统.
周期延长法
锁相环
CRITICAL
PATH
片上系统
下载PDF
职称材料
题名
以延长周期的方法实现SOC芯片内置PLL的critical path的查找
1
作者
徐勇
机构
爱德万测试
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第5期59-61,共3页
文摘
介绍了常见的SOC测试系统上使用周期延长法针对SOC内置锁相环进行测试的方法。
关键词
SOC
测试系统.
周期延长法
锁相环
CRITICAL
PATH
片上系统
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
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1
以延长周期的方法实现SOC芯片内置PLL的critical path的查找
徐勇
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004
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