基于时间特性的周期BIT数据分析模型研究

机内自检(BIT)是系统故障检测的重要手段,在电子系统中被广泛应用。随着系统越来越大,BIT数据越来越多。快速、准确的从BIT记录中获取有效的故障信息,并进行初步的故障隔离,对于大型电子系统事后检测分析具有重要的意义。本文主要研究了周期BIT数据分析方法,提出了利用周期BIT数据的时间标签特性,进行聚类分析,实现故障事件的初步融合,从而为进一步的故障推理提供了唯一性故障数据;论文还讨论了该方法在故障隔离方面的应用情况。

基于状态图的周期BIT故障检测与虚警抑制仿真

针对BIT(Built-In Test)技术在装备测试性设计与PHM(Prognostic andHealth Management)的应用需求,提出了基于状态图(Stateflow)的周期BIT(PBIT,PeriodicBIT)故障检测与虚警抑制仿真方法.分析了周期BIT的特性与虚警问题,给出了周期BIT的仿真原理.在加电BIT的基础上分析了周期BIT的仿真要素及其Stateflow对象的仿真模式,并实现了故障注入、干扰注入和虚警抑制措施的建模,最后给出了周期BIT建模仿真以及仿真输入数据设计流程.以某典型航电模块周期BIT为例,建立了电源板、干扰、周期BIT以及虚警抑制措施的Stateflow仿真模型,仿真结果显示该方法能有效地实现周期BIT故障检测与虚警抑制的动态逻辑过程仿真.

数字阵列雷达系统的BIT设计

随着现代电子技术的发展,数字阵列雷达已从概念、关键技术研究、实验系统研究转到工程化实用化阶段。同时数字阵列雷达的高集成度给测试和维修带来一定的难度,本文结合某型数字阵列雷达的测试性设计,给出了一个典型的数字阵列雷达BIT设计方案,该方案在实际运用中获得了较好的评价。