X荧光现场取样技术在大红山铜矿的应用

介绍了利用自行研制的便携式X射线荧光分析仪在大红山铜矿井下用X荧光取样分析代替人工打点取样分析 ,现场原位测量岩壁Cu、Fe品位的应用情况。采用的仪器是由2 3 8Pu同位素源、正比计数管、多道脉冲幅度分析器、便携微机系统等组成的能量色散型分析仪 ,具有自动稳谱功能。研究结果表明 :X荧光取样的原矿品位与化学分析结果相比 ,Cu相对误差在 10 %以内的合格率达到 95 % ,Fe相对误差在 5 %以内的合格率为 90 % 。